| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·工序能力指数概念与意义 | 第9-14页 |
| ·传统评价方法存在的问题 | 第9-12页 |
| ·评价元器件内在质量的新思路 | 第12-13页 |
| ·工序能力及工序能力指数概念 | 第13-14页 |
| ·研究背景及选题 | 第14-16页 |
| ·工序能力指数理论的发展 | 第14页 |
| ·研究背景与选题 | 第14-16页 |
| ·本论文主要研究工作 | 第16-17页 |
| 第二章 工序能力分析与评价 | 第17-27页 |
| ·工序能力指数概述 | 第17-23页 |
| ·潜在工序能力指数Cp | 第17-19页 |
| ·实际工序能力指数Cpk | 第19-23页 |
| ·工序能力指数与6σ设计 | 第23-26页 |
| ·传统工业生产对工序能力指数的要求与6σ设计概述 | 第24-25页 |
| ·6σ设计与传统工序能力分析的区别 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 时间序列基础 | 第27-39页 |
| ·时间序列 | 第27-29页 |
| ·时间序列的含义 | 第27-28页 |
| ·时间序列的分类 | 第28-29页 |
| ·平稳自相关结构 | 第29-32页 |
| ·自相关过程 | 第30页 |
| ·平稳过程的自相关函数 | 第30-32页 |
| ·平稳时间序列模型结构 | 第32-35页 |
| ·自回归模型AR(p) | 第32-33页 |
| ·滑动平均模型MA(q) | 第33-34页 |
| ·自回归滑动平均混合模型ARMA(p,q) | 第34-35页 |
| ·自相关和偏相关函数在识别中的应用 | 第35-37页 |
| ·平稳自相关过程模型识别与参数估计 | 第37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 自相关过程的工序能力分析 | 第39-59页 |
| ·平稳自相关过程Cpk评价面临的问题 | 第39-42页 |
| ·平稳自相关过程Cpk评价的整体过程 | 第39-40页 |
| ·自相关过程的统计控制状态 | 第40-42页 |
| ·自相关特性对过程工序能力分析的影响 | 第42-51页 |
| ·抽样和标准差估计方法对自相关过程Cpk评价的影响 | 第42-45页 |
| ·样本量对自相关过程识别的影响 | 第45-51页 |
| ·AR(1)自相关过程Cpk的计算 | 第51-53页 |
| ·不连续抽样对自相关过程的Cpk评价的影响 | 第53-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 结束语 | 第59-61页 |
| ·本文的主要贡献 | 第59页 |
| ·后续工作展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 附录A | 第65-67页 |