基于多项式求逆的数字预失真技术研究和测试验证
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
·数字预失真技术的发展概况 | 第9-10页 |
·衡量功放失真的指标 | 第10-13页 |
·ACPR | 第10-12页 |
·EVM | 第12页 |
·NMSE | 第12-13页 |
·本文主要内容与创新点 | 第13-14页 |
第二章 功率放大器行为建模与数字预失真技术 | 第14-35页 |
·功率放大器的行为特性 | 第14-18页 |
·功放的静态非线性特性 | 第14-15页 |
·功放的记忆效应(动态特性) | 第15-17页 |
·不同信号激励下的功放行为特性 | 第17-18页 |
·数字预失真的基本原理 | 第18-20页 |
·功放的行为建模 | 第20-22页 |
·无记忆效应功率放大器行为模型 | 第22-27页 |
·Saleh 模型 | 第22-23页 |
·查找表模型 | 第23-24页 |
·基带无记忆多项式模型 | 第24-25页 |
·查找表与多项式的建模能力分析 | 第25-27页 |
·记忆效应功率放大器行为模型 | 第27-32页 |
·Volterra 级数 | 第27-28页 |
·记忆多项式 | 第28页 |
·广义记忆多项式 | 第28-29页 |
·Hammerstein 模型 | 第29-30页 |
·Wiener 模型 | 第30页 |
·各模型对强记忆效应功放建模性能对比 | 第30-32页 |
·行为模型的辨识算法 | 第32-35页 |
第三章 数字预失真测试验证平台 | 第35-49页 |
·VSG-VSA 测试平台简介 | 第35-38页 |
·测试信号动态范围增强技术 | 第38-39页 |
·延时校准 | 第39-42页 |
·整数延时估计 | 第40-41页 |
·分数延时估计 | 第41-42页 |
·频谱缝合 | 第42-44页 |
·线性均衡 | 第44-46页 |
·EVM 测试 | 第46-49页 |
第四章 基于多项式求逆的数字预失真技术 | 第49-63页 |
·基于多项式求逆的开环预失真系统 | 第49-51页 |
·传统多项式求逆算法的不足 | 第51-52页 |
·基带无记忆多项式最优求逆算法 | 第52-57页 |
·多项式的正交基 | 第52-53页 |
·基带多项式级联 | 第53-54页 |
·基带多项式的最优逆 | 第54-55页 |
·举例 | 第55-57页 |
·基带记忆多项式求逆 | 第57-63页 |
·逆系统的结构 | 第57-59页 |
·反馈迭代算法求解逆记忆多项式 | 第59-61页 |
·使用查找表和反馈结构多项式的预失真 | 第61-63页 |
第五章 数字预失真的测试验证 | 第63-75页 |
·预失真测试验证实验 | 第63-65页 |
·测试环境 | 第63页 |
·测试方法 | 第63-65页 |
·F 类功放测试 | 第65-72页 |
·测试过程描述 | 第65-66页 |
·单载波 WCDMA 测试结果 | 第66-70页 |
·多载波 WCDMA 信号测试 | 第70-72页 |
·DOHERTY 功放测试 | 第72-75页 |
第六章 结论与展望 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-82页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第82-83页 |