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基于多项式求逆的数字预失真技术研究和测试验证

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第一章 绪论第9-14页
   ·数字预失真技术的发展概况第9-10页
   ·衡量功放失真的指标第10-13页
     ·ACPR第10-12页
     ·EVM第12页
     ·NMSE第12-13页
   ·本文主要内容与创新点第13-14页
第二章 功率放大器行为建模与数字预失真技术第14-35页
   ·功率放大器的行为特性第14-18页
     ·功放的静态非线性特性第14-15页
     ·功放的记忆效应(动态特性)第15-17页
     ·不同信号激励下的功放行为特性第17-18页
   ·数字预失真的基本原理第18-20页
   ·功放的行为建模第20-22页
   ·无记忆效应功率放大器行为模型第22-27页
     ·Saleh 模型第22-23页
     ·查找表模型第23-24页
     ·基带无记忆多项式模型第24-25页
     ·查找表与多项式的建模能力分析第25-27页
   ·记忆效应功率放大器行为模型第27-32页
     ·Volterra 级数第27-28页
     ·记忆多项式第28页
     ·广义记忆多项式第28-29页
     ·Hammerstein 模型第29-30页
     ·Wiener 模型第30页
     ·各模型对强记忆效应功放建模性能对比第30-32页
   ·行为模型的辨识算法第32-35页
第三章 数字预失真测试验证平台第35-49页
   ·VSG-VSA 测试平台简介第35-38页
   ·测试信号动态范围增强技术第38-39页
   ·延时校准第39-42页
     ·整数延时估计第40-41页
     ·分数延时估计第41-42页
   ·频谱缝合第42-44页
   ·线性均衡第44-46页
   ·EVM 测试第46-49页
第四章 基于多项式求逆的数字预失真技术第49-63页
   ·基于多项式求逆的开环预失真系统第49-51页
   ·传统多项式求逆算法的不足第51-52页
   ·基带无记忆多项式最优求逆算法第52-57页
     ·多项式的正交基第52-53页
     ·基带多项式级联第53-54页
     ·基带多项式的最优逆第54-55页
     ·举例第55-57页
   ·基带记忆多项式求逆第57-63页
     ·逆系统的结构第57-59页
     ·反馈迭代算法求解逆记忆多项式第59-61页
     ·使用查找表和反馈结构多项式的预失真第61-63页
第五章 数字预失真的测试验证第63-75页
   ·预失真测试验证实验第63-65页
     ·测试环境第63页
     ·测试方法第63-65页
   ·F 类功放测试第65-72页
     ·测试过程描述第65-66页
     ·单载波 WCDMA 测试结果第66-70页
     ·多载波 WCDMA 信号测试第70-72页
   ·DOHERTY 功放测试第72-75页
第六章 结论与展望第75-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-82页
攻硕期间取得的研究成果第82-83页

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