基于FPGA的IIC在线测试系统
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
目录 | 第6-8页 |
CONTENTS | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 研究背景 | 第10-11页 |
1.2 研究现状 | 第11-12页 |
1.3 本文的研究意义 | 第12-14页 |
1.4 论文研究和主要内容和章节安排 | 第14-15页 |
第二章 系统的工作原理 | 第15-20页 |
2.1 引言 | 第15页 |
2.2 系统的工作模式 | 第15-17页 |
2.2.1 码型 | 第15-16页 |
2.2.2 测主模式 | 第16页 |
2.2.3 测从模式 | 第16-17页 |
2.3 IIC总线的测试项 | 第17-19页 |
2.4 本章总结 | 第19-20页 |
第三章 系统的硬件设计 | 第20-27页 |
3.1 引言 | 第20页 |
3.2 FPGA模块设计 | 第20-24页 |
3.2.1 FPGA模块开发流程 | 第21-22页 |
3.2.2 IIC测试系统模块设计 | 第22-24页 |
3.3 底板待测芯片模块设计 | 第24-25页 |
3.4 PC数据分析模块设计 | 第25页 |
3.5 本章总结 | 第25-27页 |
第四章 系统的软件设计 | 第27-34页 |
4.1 引言 | 第27页 |
4.2 TCL模块设计 | 第27-31页 |
4.2.1 IIC自动化测试流程 | 第27-30页 |
4.2.2 TCL程序设计 | 第30-31页 |
4.3 MFC分析软件设计 | 第31-33页 |
4.4 本章总结 | 第33-34页 |
第五章 IIC测试结果分析 | 第34-46页 |
5.1 测主(mater模式) | 第34-39页 |
5.1.1 测试方法 | 第34-35页 |
5.1.2 测试结果分析 | 第35-38页 |
5.1.3 测试报告 | 第38-39页 |
5.2 测从(slave模式) | 第39-45页 |
5.2.1 测试方法 | 第39-42页 |
5.2.2 测试结果分析 | 第42-43页 |
5.2.3 测试报告 | 第43-45页 |
5.3 本章总结 | 第45-46页 |
总结与展望 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-50页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第50-52页 |
致谢 | 第52页 |