第一章 前言 | 第1-15页 |
§1.1 3C-SiC的特性 | 第8-9页 |
§1.2 制备3C-SiC单晶薄膜的方法 | 第9-12页 |
§1.3 碳化硅的主要应用 | 第12-15页 |
第二章 生长设备 | 第15-21页 |
§2.1 实验装置 | 第16-18页 |
§2.2 加热原理 | 第18-20页 |
§2.3 控温原理 | 第20-21页 |
第三章 3C-SiC薄膜生长工艺 | 第21-26页 |
§3.1 衬底准备 | 第21-22页 |
§3.2 碳化工艺 | 第22-23页 |
§3.3 生长工艺 | 第23-26页 |
第四章 样品的成分与结构分析 | 第26-48页 |
§4.1 XRD分析 | 第26-34页 |
§4.2 SEM分析 | 第34-41页 |
§4.3 TED分析 | 第41-48页 |
第五章 碳化硅薄膜的生长机理及工艺优化 | 第48-53页 |
§5.1 生长机理 | 第48-51页 |
§5.2 工艺优化 | 第51-53页 |
第六章 结论 | 第53-55页 |
§6.1 结论 | 第53-54页 |
§6.2 对今后工作的一些设想 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
附录 | 第59页 |