| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 功率集成电路与半桥驱动芯片概述 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容及设计指标 | 第12-13页 |
| 1.4 论文组织结 | 第13-15页 |
| 第二章 半桥驱动芯片参数及其测试方案 | 第15-25页 |
| 2.1 静态参数测试方案介绍 | 第15-18页 |
| 2.2 开关时间测试方法及其难点 | 第18-20页 |
| 2.3 dv/dt噪声的产生及其测试难点 | 第20-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 半桥驱动芯片静态参数测试系统的设计与优化 | 第25-33页 |
| 3.1 测试系统硬件构成 | 第25-26页 |
| 3.2 击穿电压BV测试系统程序 | 第26-27页 |
| 3.3 漏电流测试系统程序(以高侧漏电流I_(QBS)为例) | 第27-28页 |
| 3.4 输入阈值V_(TH)测试系统程序 | 第28-29页 |
| 3.5 欠压测试系统程序(以低侧欠压正向阈值U_(VCC+)为例) | 第29-31页 |
| 3.6 拉电流I_(O+)测试系统程序 | 第31-32页 |
| 3.7 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 半桥驱动芯片开关时间测试系统的设计与优化 | 第33-49页 |
| 4.1 开关时间测试电路的的分析 | 第33-36页 |
| 4.2 开关测试电路的仿真分析 | 第36-39页 |
| 4.3 寄生参数的量化 | 第39-45页 |
| 4.4 走线长度约束 | 第45页 |
| 4.5 开关时间测试系统程序 | 第45-46页 |
| 4.6 本章小结 | 第46-49页 |
| 第五章 半桥驱动芯片dv/dt噪声测试系统的设计与优化 | 第49-61页 |
| 5.1 dv/dt测试电路的分析与优化 | 第49-51页 |
| 5.2 栅驱动电路栅极电阻的设计 | 第51-56页 |
| 5.3 寄生电感对测试的影响及优化方案 | 第56-59页 |
| 5.4 dv/dt噪声测试系统程序 | 第59-60页 |
| 5.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 测试结果及分析 | 第61-67页 |
| 6.1 静态测试系统结果分析 | 第61-63页 |
| 6.2 动态测试系统测试结果分析 | 第63-64页 |
| 6.3 dv/dt测试系统测试结果分析 | 第64-66页 |
| 6.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 7.1 总结 | 第67-68页 |
| 7.2 展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间的成果和发表的论文 | 第75-76页 |
| 附录 | 第76-83页 |
| 1 系统软件介绍 | 第76-78页 |
| 1.1 Keithley 2410 VISA驱动函数库 | 第76-77页 |
| 1.2 Tektronix MD03014 VISA驱动函数库 | 第77页 |
| 1.3 Tektronix AFG3252 VISA驱动函数库 | 第77-78页 |
| 2 子程序介绍 | 第78-83页 |
| 2.1 Keithley 2410 | 第78-80页 |
| 2.2 Tektronix MDO3014 | 第80-81页 |
| 2.3 Tektronix AFG3252 | 第81-82页 |
| 2.4 Excel Read and Write | 第82-83页 |
