功率IGBT驱动电路设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题的研究背景与研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 相关技术的国内外发展现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 IGBT的国内外发展现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 IGBT驱动电路的国内外发展现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 IGBT驱动技术未来的发展趋势 | 第13页 |
| 1.3 本文主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 IGBT概述以及驱动芯片设计要求 | 第15-27页 |
| 2.1 IGBT概述 | 第15-22页 |
| 2.1.1 IGBT的结构以及原理 | 第15-17页 |
| 2.1.1.1 IGBT器件的结构 | 第15页 |
| 2.1.1.2 IGBT器件的工作原理 | 第15-17页 |
| 2.1.2 IGBT的工作特性 | 第17-21页 |
| 2.1.2.1 IGBT的静态特性 | 第17-18页 |
| 2.1.2.2 IGBT的动态特性 | 第18-21页 |
| 2.1.3 IGBT的擎住效应和安全工作区 | 第21-22页 |
| 2.1.3.1 IGBT的擎住效应 | 第21页 |
| 2.1.3.2 IGBT的安全工作区 | 第21-22页 |
| 2.2 IGBT驱动芯片介绍 | 第22-26页 |
| 2.2.1 IGBT对驱动电路的要求 | 第22-23页 |
| 2.2.2 驱动芯片整体框架图以及各模块功能介绍 | 第23-26页 |
| 2.2.3 本文驱动电路参数设计指标 | 第26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 芯片部分子电路设计与仿真 | 第27-62页 |
| 3.1 基准电路 | 第27-35页 |
| 3.1.1 带隙基准电压源的原理 | 第27页 |
| 3.1.2 基准电路的关键指标 | 第27-28页 |
| 3.1.3 本文基准电压源电路原理分析 | 第28-30页 |
| 3.1.3.1 启动电路 | 第28-29页 |
| 3.1.3.2 基准电压产生电路 | 第29-30页 |
| 3.1.3.3 偏置电路 | 第30页 |
| 3.1.4 基准电路的仿真验证 | 第30-33页 |
| 3.1.5 对基准电压源改进 | 第33-35页 |
| 3.2 输入接口电路 | 第35-41页 |
| 3.2.1 输入接口电路的结构和工作原理 | 第35-39页 |
| 3.2.2 输入接口电路的仿真结果 | 第39-41页 |
| 3.3 欠压保护电路 | 第41-48页 |
| 3.3.1 欠压保护电路的结构和工作机理 | 第41-45页 |
| 3.3.2 欠压保护电路的仿真结果 | 第45-48页 |
| 3.4 高压电平位移电路 | 第48-60页 |
| 3.4.1 双脉冲信号产生电路 | 第49-51页 |
| 3.4.2 高压电平位移核心电路 | 第51-54页 |
| 3.4.3 滤波电路 | 第54-57页 |
| 3.4.4 脉冲解调电路 | 第57-59页 |
| 3.4.5 电平位移整体仿真 | 第59-60页 |
| 3.5 低端延迟电路 | 第60-61页 |
| 3.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第四章 IGBT驱动电路整体仿真与分析 | 第62-74页 |
| 4.1 驱动整体电路的功能仿真 | 第62-71页 |
| 4.1.1 低端欠压保护功能测试 | 第63-64页 |
| 4.1.2 高端欠压保护功能测试 | 第64-65页 |
| 4.1.3 短路保护功能测试 | 第65-67页 |
| 4.1.4 过温保护功能测试 | 第67-69页 |
| 4.1.5 驱动电路瞬态测试 | 第69-71页 |
| 4.2 驱动整体电路的参数仿真 | 第71-73页 |
| 4.2.1 信号传输时间仿真 | 第71页 |
| 4.2.2 驱动接口驱动电流仿真 | 第71-72页 |
| 4.2.3 驱动电路各项参数汇总 | 第72-73页 |
| 4.3 本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 结论 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第79-80页 |
