集成电路成品率的版图灵敏度模型研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·集成电路成品率研究的意义 | 第8-10页 |
·集成电路制造成品率的研究 | 第10-11页 |
·版图灵敏度的研究意义 | 第11-13页 |
·版图灵敏度模型的研究现状 | 第13-14页 |
·本论文的内容与安排 | 第14-16页 |
第二章 灵敏度模型研究的前期准备 | 第16-30页 |
·缺陷分析 | 第16-21页 |
·真实缺陷的测试结构 | 第16-19页 |
·缺陷的粒径分布和空间分布 | 第19-21页 |
·版图和缺陷的矩阵表示 | 第21页 |
·数学形态学算法 | 第21-25页 |
·数学形态学基本运算 | 第22-24页 |
·数学形态学算法的应用 | 第24-25页 |
·关键面积 | 第25-28页 |
·冗余物缺陷和短路关键面积 | 第25-26页 |
·丢失物缺陷和开路关键面积 | 第26-28页 |
·小结 | 第28-30页 |
第三章 反映到单一线网的短路灵敏度模型 | 第30-44页 |
·现有的短路灵敏度模型 | 第30-33页 |
·基于版图信息的灵敏度模型 | 第30-32页 |
·基于单位芯片上关键面积大小的短路灵敏度模型 | 第32-33页 |
·反映到单一线网的短路线网灵敏度模型 | 第33-35页 |
·短路线网灵敏度模型(NSS)的提出 | 第33-34页 |
·模型的计算机辅助算法 | 第34-35页 |
·模型的应用 | 第35-42页 |
·基于该模型的版图优化方法 | 第35-40页 |
·考虑粒径分布的模型应用 | 第40-41页 |
·优化方法的性能分析 | 第41-42页 |
·小结 | 第42-44页 |
第四章 考虑线网周围空白空间的开路灵敏度模型 | 第44-56页 |
·现有的开路灵敏度模型 | 第44-46页 |
·基于单位芯片上关键面积大小的开路灵敏度模型 | 第44-45页 |
·基于单位线网的开路灵敏度模型 | 第45-46页 |
·考虑线网周围空白空间的开路线网灵敏度模型 | 第46-49页 |
·模型提出的依据 | 第46-47页 |
·模型的提出 | 第47-48页 |
·模型的计算机辅助算法 | 第48-49页 |
·模型的应用 | 第49-54页 |
·模型初步验证 | 第49-51页 |
·对复杂版图的验证 | 第51-54页 |
·模型的性能分析及适用范围 | 第54页 |
·小结 | 第54-56页 |
第五章 结束语 | 第56-60页 |
致谢 | 第60-62页 |
参考文献 | 第62-68页 |
研究成果 | 第68-69页 |