| 第一章 绪论 | 第1-10页 |
| 第二章 可靠性评价技术概述 | 第10-21页 |
| §2．1 常规可靠性评价方法存在的问题 | 第10-11页 |
| §2．2 评价元器件内在质量的新思路 | 第11-13页 |
| §2．3 工序能力指数和6σ设计技术 | 第13-21页 |
| 第三章 Pearson分布拟合与工序能力指数评价 | 第21-43页 |
| §3．1 Pearson分布简介 | 第21-26页 |
| §3．2 Pearson分布的数字特征 | 第26-30页 |
| §3．3 函数拟合的算法基础 | 第30-35页 |
| §3．4 Pearson分布的参数拟合及拟合优度检验 | 第35-38页 |
| §3．5 Pearson分布拟合的应用及工序能力指数评价 | 第38-43页 |
| 第四章 针对电迁移失效的可靠性设计与电路优化 | 第43-61页 |
| §4．1 微电路可靠性设计的必要性 | 第43-44页 |
| §4．2 微电路可靠性设计 | 第44-45页 |
| §4．3 电迁移原理 | 第45-46页 |
| §4．4 电迁移失效的可靠性设计 | 第46-49页 |
| §4．5 带通滤波器电迁移可靠性的优化设计实例 | 第49-61页 |
| 第五章 结论 | 第61-63页 |
| 附录 | 第63-67页 |
| 附录A | 第63-64页 |
| 附录B | 第64-65页 |
| 附录C | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 在读期间研究成果 | 第70页 |