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芯片封装测试生产线生产周期预测与优化研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-17页
    1.1 课题背景及意义第10页
    1.2 国内外研究现状第10-14页
        1.2.1 国内外研究现状总体概况第11-13页
        1.2.2 本人所在课题组已有研究第13-14页
    1.3 研究目标与研究内容第14-15页
    1.4 论文的结构第15-17页
第二章 半导体制造及基于变动性的CT预测与优化理论第17-28页
    2.1 半导体制造特点简介第17-19页
    2.2 内部标杆评估法第19-20页
    2.3 变动性相关理论第20-25页
        2.3.1 变动性的来源及种类第21-22页
        2.3.2 变动性的基本量化方法第22-25页
    2.4 工厂物理学中生产周期预测方法第25-26页
    2.5 X-FACTOR第26-27页
    2.6 本章小结第27-28页
第三章 总体设计第28-37页
    3.1 研究工作总体设计第28-30页
    3.2 生产初调度模型设计第30-34页
    3.3 生产周期预测与优化总体设计第34-36页
        3.3.1 生产周期预测总体设计第34-35页
        3.3.2 生产周期优化总体设计第35-36页
    3.4 本章小结第36-37页
第四章 基于变动性的生产周期预测第37-55页
    4.1 基于时间分割的生产周期预测分析第37-44页
        4.1.1 逻辑生产线的构建第37-38页
        4.1.2 生产周期的组成研究第38-44页
    4.2 生产周期预测模型建立第44-54页
        4.2.1 基于变动性量化的生产周期预测模型建立第44-50页
        4.2.2 结合设备突发大故障的生产周期预测模型改进第50-52页
        4.2.3 多产品混合的生产周期预测方法改进第52-54页
    4.3 本章小结第54-55页
第五章 生产周期优化研究第55-71页
    5.1 生产周期评估方法改进第55-62页
        5.1.1 生产周期优化的生产绩效初评估方法改进第55-58页
        5.1.2 生产周期优化的X-FACTOR值评估方法分析与改进第58-62页
    5.2 基于绩效评估与X-FACTOR评估的生产周期事前优化方法建立第62-69页
    5.3 本章小结第69-71页
第六章 生产周期预测与优化实例第71-79页
    6.1 模型的输入输出第71-72页
    6.2 生产周期预测实例分析第72-77页
        6.2.1 生产线预测模型基本数据的获取第72-74页
        6.2.2 生产线预测模型结果比较第74-77页
    6.3 生产周期优化实例分析第77-78页
    6.4 本章总结第78-79页
第七章 总结与展望第79-81页
    7.1 本文总结第79-80页
    7.2 工作展望第80-81页
致谢第81-82页
参考文献第82-86页

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