| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究的背景意义 | 第8-9页 |
| ·研究现状 | 第9页 |
| ·论文结构及创新点 | 第9-11页 |
| ·论文结构 | 第9页 |
| ·论文创新点 | 第9-11页 |
| 第二章 电磁兼容 | 第11-17页 |
| ·相关概念 | 第11-12页 |
| ·芯片级测试 | 第12-14页 |
| ·发射测量IEC 61967 | 第13-14页 |
| ·抗扰度测试IEC62132 | 第14页 |
| ·静电放电 | 第14-17页 |
| 第三章 静电放电测试 | 第17-32页 |
| ·芯片级ESD测试 | 第17-23页 |
| ·机器模型(Machine Mode) | 第17页 |
| ·人体模型(Human Body Model) | 第17-20页 |
| ·充电器件模型(Charge Device Model) | 第20-23页 |
| ·芯片的latch up测试 | 第23-26页 |
| ·系统级ESD测试 | 第26-29页 |
| ·ESD保护电路 | 第29-32页 |
| 第四章 芯片级与系统级ESD比较及PESD的设计与实现 | 第32-48页 |
| ·芯片级、系统级ESD的分析与比较 | 第33-37页 |
| ·系统级静电放电测试与芯片级门锁测试 | 第37-39页 |
| ·芯片级PESD测试模型 | 第39-41页 |
| ·PESD的EMC测试板的设计与实现 | 第41-42页 |
| ·PESD的EMC测试软件的设计与实现 | 第42-47页 |
| ·PESD的测试引脚及测试结果的分类 | 第47-48页 |
| 第五章 PESD的重复性、可靠性及测试结果的分析比较 | 第48-56页 |
| ·PESD测试的重复性及可靠性验证 | 第48-50页 |
| ·测试结果分析 | 第50-56页 |
| ·PESD与HBM的比较 | 第51-54页 |
| ·PESD与latch-up测试的比较 | 第54-56页 |
| 第六章 总结与展望 | 第56-57页 |
| ·工作总结 | 第56页 |
| ·工作展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 攻读硕士期间发表论文情况 | 第60页 |
