| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·研究背景与课题意义 | 第8-9页 |
| ·本论文的主要工作 | 第9-10页 |
| ·论文结构安排 | 第10-12页 |
| 第二章 电磁兼容概论 | 第12-24页 |
| ·电磁兼容概念 | 第12-13页 |
| ·电磁干扰的危害性 | 第13页 |
| ·研究电磁兼容测试技术的意义 | 第13-14页 |
| ·电磁兼容技术的发展 | 第14-17页 |
| ·电磁兼容技术的发展史 | 第14-15页 |
| ·电磁兼容测试技术在我国的发展状况 | 第15-17页 |
| ·电磁兼容标准 | 第17-24页 |
| ·国际电工委员会(IEC)介绍 | 第17-19页 |
| ·电磁兼容标准分类 | 第19-21页 |
| ·IEC61000系列标准介绍 | 第21-22页 |
| ·IEC62215系列标准介绍 | 第22页 |
| ·电磁兼容测试分类 | 第22-24页 |
| 第三章 解决电磁干扰的措施与系统级EFT抗扰度测试 | 第24-35页 |
| ·电磁干扰 | 第24-26页 |
| ·电磁干扰的性质 | 第24-25页 |
| ·电磁干扰三要素 | 第25-26页 |
| ·解决电磁干扰的措施 | 第26-27页 |
| ·系统级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试 | 第27-35页 |
| ·测试等级 | 第28-29页 |
| ·测试设备 | 第29-33页 |
| ·测试步骤 | 第33-35页 |
| 第四章 集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试研究 | 第35-45页 |
| ·集成电路的电磁兼容问题 | 第35页 |
| ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度的测试环境 | 第35-36页 |
| ·耦合路径 | 第35页 |
| ·瞬态抗扰度环境 | 第35-36页 |
| ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试方法 | 第36-45页 |
| ·测试等级 | 第36页 |
| ·测试仪器 | 第36-43页 |
| ·测试流程 | 第43页 |
| ·实验室环境 | 第43-44页 |
| ·异常等级设置 | 第44-45页 |
| 第五章 对集成电路级EFT抗扰度测试的研究 | 第45-55页 |
| ·集成电路级电快速瞬变脉冲群抗扰度测试中出现的问题 | 第45页 |
| ·实验设计 | 第45-48页 |
| ·实验方案 | 第45-46页 |
| ·测试PCB板上元器件的描述 | 第46-47页 |
| ·测试期间芯片内部工作模式的设置 | 第47-48页 |
| ·测试结果记录方法 | 第48页 |
| ·测试结果与分析 | 第48-55页 |
| ·测试结果 | 第48-54页 |
| ·测试结果分析 | 第54-55页 |
| 第六章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·本文总结 | 第55页 |
| ·未来研究工作的展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 攻读硕士学位期间参与发表的论文 | 第60页 |