首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文

热迁移作用下无铅微焊点的蠕变性能研究与数值模拟

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 绪论第12-27页
    1.1 研究背景第12-15页
        1.1.1 焊点的无铅化及微型化第12-14页
        1.1.2 互连焊点可靠性影响因素及研究第14-15页
    1.2 互连焊点热迁移行为现状研究第15-20页
        1.2.1 热迁移的概念及其理论第15-16页
        1.2.2 合金元素的热迁移第16-20页
    1.3 互连焊点蠕变行为研究第20-24页
        1.3.1 蠕变理论第20-21页
        1.3.2 蠕变的本构方程第21-23页
        1.3.3 互连焊点蠕变行为的研究现状第23-24页
    1.4 有限元在电子封装中的应用第24-25页
        1.4.1 有限元方法的基本原理第24页
        1.4.2 有限元在电子封装可靠性研究中的应用第24-25页
    1.5 本文的主要内容与研究方案第25-27页
第二章 研究方法与实验过程第27-35页
    2.1 实验材料与设备第27-28页
        2.1.1 实验材料第27页
        2.1.2 实验设备第27-28页
    2.2 蠕变试样制备及实验装置第28-30页
        2.2.1 800μm的Cu/Sn0.7Cu/Cu试样制备第28-29页
        2.2.2 10μm的Cu/Sn/Cu试样制备第29-30页
    2.3 实验过程第30-31页
        2.3.1 焊接高度为800μm焊点的蠕变实验第30-31页
        2.3.2 小间隙10μm试样的蠕变实验第31页
    2.4 显微组织观察与数据处理第31-35页
        2.4.1 显微组织观察第31-32页
        2.4.2 蠕变数据处理第32-35页
第三章 热迁移-应力耦合作用下800μm的Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点蠕变性能研究第35-52页
    3.1 焊点的蠕变曲线分析第35-37页
        3.1.1 焊点蠕变寿命分析第35-37页
        3.1.2 稳态蠕变速率第37页
    3.2 焊点蠕变断裂分析第37-41页
        3.2.1 焊点的蠕变断裂位置第37-39页
        3.2.2 焊点蠕变断裂前后界面IMC的形貌分析第39-41页
    3.3 焊点蠕变本构方程建立第41-43页
        3.3.1 剪切蠕变应力指数n的求解第41页
        3.3.2 剪切蠕变激活能Q的求解第41-42页
        3.3.3 剪切蠕变本构方程常数A的求解第42-43页
    3.4 焊点的蠕变行为数值模拟分析第43-50页
        3.4.1 焊点的模型简化假设与单元的选择第43-44页
        3.4.2 确定蠕变本构方程及材料参数第44-45页
        3.4.3 有限元模型的网格划分与边界条件第45-47页
        3.4.4 蠕变仿真结果与分析第47-50页
    3.5 本章小结第50-52页
第四章 热迁移-应力耦合作用下10μm的Cu/Sn/Cu焊点蠕变性能研究第52-68页
    4.1 焊点的蠕变曲线分析第52-54页
        4.1.1 焊点蠕变寿命分析第52-53页
        4.1.2 稳态蠕变速率第53-54页
    4.2 焊点蠕变断裂分析第54-56页
        4.2.1 焊点的蠕变断口形貌第54-55页
        4.2.2 焊点的蠕变断裂位置第55-56页
    4.3 焊点蠕变本构方程的建立第56-59页
        4.3.1 剪切蠕变应力指数n的求解第56-57页
        4.3.2 剪切蠕变激活能Q的求解第57-58页
        4.3.3 剪切蠕变本构方程常数A的求解第58-59页
    4.4 焊点的蠕变行为数值模拟分析第59-66页
        4.4.1 焊点的模型简化假设与单元的选择第59页
        4.4.2 确定蠕变本构方程及材料参数第59-60页
        4.4.3 有限元模型网格划分与边界条件第60-61页
        4.4.4 蠕变仿真结果分析第61-66页
    4.5 与800μmCu/Sn0.7Cu/Cu焊点的对比分析第66-67页
    4.6 本章小结第67-68页
第五章 总结与展望第68-71页
    5.1 主要工作成果及结论第68-69页
        5.1.1 800μm的Cu/Sn0.7Cu/Cu焊点的结论第68-69页
        5.1.2 10μm的Cu/Sn/Cu焊点的结论第69页
    5.2 本文研究内容的创新点第69页
    5.3 后续工作展望第69-71页
参考文献第71-77页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第77-78页
致谢第78-79页
附件第79页

论文共79页,点击 下载论文
上一篇:柔性电路板制造过程中两类监控问题的研究及应用
下一篇:中职学校师生冲突的现状与解决策略--心理健康教育视角的分析