基于0.18μm CMOS工艺的高速以及高精度采样保持电路设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·国内外ADC的研究状况和进展 | 第7-8页 |
| ·论文研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·论文的主要内容 | 第9-11页 |
| 第二章 模数（A/D）转换器概述 | 第11-23页 |
| ·高速ADC转换器的介绍 | 第11-18页 |
| ·并行比较结构ADC | 第11-12页 |
| ·两步式结构ADC | 第12-13页 |
| ·折叠插值结构ADC | 第13-17页 |
| ·流水线结构ADC | 第17-18页 |
| ·高精度A/D转换器的介绍 | 第18-20页 |
| ·逐次逼近型ADC | 第18-19页 |
| ·Sigma-Delta ADC原理 | 第19-20页 |
| ·ADC中的采样保持电路 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 采样保持电路的理论分析 | 第23-41页 |
| ·采样定理 | 第23-25页 |
| ·底极板采样技术 | 第25-26页 |
| ·传统采样开关 | 第26-28页 |
| ·传统MOS开关的非理想因素 | 第28-34页 |
| ·输入电压相关的关断瞬间 | 第29-30页 |
| ·MOSFET的导通电阻 | 第30-31页 |
| ·时钟馈通效应 | 第31页 |
| ·沟道电荷注入效应 | 第31-33页 |
| ·KT/C噪声 | 第33-34页 |
| ·采样保持电路的结构 | 第34-36页 |
| ·开环结构 | 第35-36页 |
| ·闭环结构 | 第36页 |
| ·采样保持电路中的采样电容分析 | 第36-37页 |
| ·高精度采样保持电路中运算放大器的分析与设计 | 第37-40页 |
| ·一般运算放大器的性能参数 | 第37-38页 |
| ·高精度采样保持电路中运算放大器的性能分析 | 第38-39页 |
| ·高精度采样保持电路中运算放大器的选择 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第四章 采样保持电路的分析与设计 | 第41-65页 |
| ·传统采样保持电路 | 第41-43页 |
| ·电荷传输型采样保持电路 | 第41-42页 |
| ·电容翻转型采样保持电路 | 第42-43页 |
| ·高精度采样开关技术 | 第43-45页 |
| ·栅压提升技术 | 第44页 |
| ·栅压跟随技术 | 第44-45页 |
| ·高速采样保持电路的设计 | 第45-49页 |
| ·采样开关的设计 | 第46-47页 |
| ·缓冲级的设计 | 第47页 |
| ·仿真及结果分析 | 第47-49页 |
| ·高精度采样保持电路的设计 | 第49-63页 |
| ·采样开关的设计 | 第49-51页 |
| ·比较器的设计 | 第51-54页 |
| ·运算放大器的设计 | 第54-60页 |
| ·电路仿真及分析 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第五章 总结 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 硕士期间参与的科研项目 | 第72-73页 |
