SOC设计中IP核的测试方法与应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-8页 |
| 第二章 传统的测试方法以及局限性 | 第8-23页 |
| ·测试的基础概念 | 第8-10页 |
| ·故障模型与算法 | 第10-13页 |
| ·测试的发展 | 第13-14页 |
| ·DFT扫描测试 | 第14-19页 |
| ·SOC芯片对测试的要求 | 第19-23页 |
| 第三章 采用BIST的测试方法 | 第23-42页 |
| ·BIST的来源和优势 | 第23-25页 |
| ·BIST的结构 | 第25-28页 |
| ·BIST的几种分类 | 第28-40页 |
| ·MEMBIST | 第28-35页 |
| ·LogicBIST | 第35-37页 |
| ·COREBIST | 第37-40页 |
| ·BIST的缺点和代价 | 第40-42页 |
| 第四章 CORE BIST的结构和实现方法 | 第42-57页 |
| ·CORE BIST与Logic BIST的比较 | 第42-43页 |
| ·DBIST的结构 | 第43-50页 |
| ·DBIST的简要工作方式 | 第44-45页 |
| ·Wrapper cell的结构 | 第45-48页 |
| ·测试控制器的结构 | 第48-50页 |
| ·被测的IP核 | 第50页 |
| ·DBIST工作方式 | 第50-52页 |
| ·P1500协议与CTL语言 | 第52-57页 |
| ·P1500协议的简介 | 第53-55页 |
| ·CTL语言介绍 | 第55-57页 |
| 第五章 测试向量生成方法与理论 | 第57-69页 |
| ·测试向量 | 第57-60页 |
| ·PRPG伪随机数生成 | 第60-63页 |
| ·External LFSR | 第60-61页 |
| ·Internal LFSR | 第61-63页 |
| ·利用LFSR的数据压缩 | 第63-65页 |
| ·MISR多输入鉴别寄存器 | 第65-66页 |
| ·Re-seeding方法 | 第66-69页 |
| 第六章 实验结果与分析 | 第69-79页 |
| ·DBIST方法的流程 | 第69-74页 |
| ·DFT的要求 | 第69-70页 |
| ·对CPU进行wrapper | 第70-72页 |
| ·进行DBIST集成 | 第72-74页 |
| ·DBIST的ATPG | 第74-77页 |
| ·传统SCAN/ATPG方法 | 第77-78页 |
| ·比较DBIST和SCAN／ATPG的数据 | 第78-79页 |
| 第七章 结论 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
