| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 集成电路发展现状 | 第10-11页 |
| 1.2 集成电路测试技术的发展 | 第11-12页 |
| 1.3 集成电路测试系统的国外发展状况 | 第12-13页 |
| 1.4 集成电路测试系统的国内发展状况 | 第13页 |
| 1.5 课题的来源及意义 | 第13-14页 |
| 1.6 论文研究内容及结构安排 | 第14-15页 |
| 第二章 模拟测试系统的总体架构 | 第15-22页 |
| 2.1 ATE(自动测试仪)的工作原理 | 第15-16页 |
| 2.2 模拟测试系统的硬件架构 | 第16-20页 |
| 2.2.1 AWG（任意波形发生器） | 第17-18页 |
| 2.2.2 DIG（数字化仪） | 第18-19页 |
| 2.2.3 PMU(精密测量单元) | 第19-20页 |
| 2.2.4 TMU(时间测量单元) | 第20页 |
| 2.3 模拟测试系统的软件架构 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 数字化仪的硬件设计及调试 | 第22-39页 |
| 3.1 数字化仪硬件结构设计 | 第22-32页 |
| 3.1.1 差分接收 | 第23-24页 |
| 3.1.1.1 差分接收的作用 | 第23页 |
| 3.1.1.2 差分接收的实现 | 第23-24页 |
| 3.1.2 抗混叠（anti-alias）滤波器 | 第24-26页 |
| 3.1.2.1 抗混叠滤波器的作用 | 第24页 |
| 3.1.2.2 抗混叠滤波器设计方法 | 第24-25页 |
| 3.1.2.3 抗混叠滤波器的实现 | 第25-26页 |
| 3.1.3 可编程增益放大器 | 第26-28页 |
| 3.1.3.1 数字可编程增益放大器 | 第26-27页 |
| 3.1.3.2 模拟可编程增益放大器 | 第27-28页 |
| 3.1.3.3 可编程增益的实现 | 第28页 |
| 3.1.4 模数转换电路（A/D） | 第28-30页 |
| 3.1.4.1 采样定理 | 第28-29页 |
| 3.1.4.2 模数转换电路工作原理 | 第29页 |
| 3.1.4.3 模数转换电路的实现 | 第29-30页 |
| 3.1.5 存储器电路 | 第30-31页 |
| 3.1.6 触发电路 | 第31-32页 |
| 3.1.6.1 触发电路的作用 | 第31页 |
| 3.1.6.2 触发电路的实现 | 第31-32页 |
| 3.2 FPGA配置电路 | 第32-34页 |
| 3.2.1 JTAG配置模式（调试模式） | 第33-34页 |
| 3.2.2 主串配置模式（工作模式） | 第34页 |
| 3.3 数字化仪调试结果 | 第34-37页 |
| 3.3.1 差分接收电路调试结果 | 第34-35页 |
| 3.3.2 抗混叠滤波电路调试结果 | 第35-36页 |
| 3.3.3 可编程增益电路调试结果 | 第36页 |
| 3.3.4 触发电路调试结果 | 第36-37页 |
| 3.3.5 模数转换电路调试结果 | 第37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 数字化仪的驱动设计 | 第39-59页 |
| 4.1 数字化仪测试驱动函数的设计 | 第39-42页 |
| 4.2 FPGA的工作原理 | 第42页 |
| 4.3 数字化仪硬件驱动设计 | 第42-58页 |
| 4.3.1 数模转换器的驱动设计 | 第43-46页 |
| 4.3.1.1 AD5348的工作原理 | 第43-44页 |
| 4.3.1.2 AD5348控制器状态机的实现 | 第44-46页 |
| 4.3.1.3 AD5348控制器的仿真结果 | 第46页 |
| 4.3.2 模数转化器的驱动设计 | 第46-48页 |
| 4.3.2.1 AD9245的工作原理 | 第46-47页 |
| 4.3.2.2 AD9245的采样时钟设计（DCM） | 第47-48页 |
| 4.3.2.3 AD9245的仿真结果 | 第48页 |
| 4.3.3 异步FIFO的设计 | 第48-54页 |
| 4.3.3.1 建立时间/保持时间 | 第49-50页 |
| 4.3.3.2 同步器 | 第50-51页 |
| 4.3.3.3 FIFO的实现 | 第51-54页 |
| 4.3.3.4 FIFO的仿真结果 | 第54页 |
| 4.3.4 存储器SDRAM的驱动 | 第54-58页 |
| 4.3.4.1 SDRAM的工作原理 | 第54-57页 |
| 4.3.4.2 SDRAM读写状态机 | 第57-58页 |
| 4.3.4.3 SDRAM控制器的仿真结果 | 第58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 上位机软件GUI界面设计 | 第59-70页 |
| 5.1 GUI界面的需求分析 | 第59-60页 |
| 5.1.1 GUI界面的功能分析 | 第60页 |
| 5.1.2 GUI界面的性能分析 | 第60页 |
| 5.2 GUI界面的开发环境 | 第60-61页 |
| 5.3 GUI界面的设计流程 | 第61-62页 |
| 5.4 生产模式界面设计 | 第62-67页 |
| 5.4.1 界面功能设计 | 第62-63页 |
| 5.4.2 通信接.设计 | 第63-64页 |
| 5.4.3 Datalog(输出报表)的设计 | 第64-66页 |
| 5.4.4 测试结果保存功能的设计 | 第66-67页 |
| 5.5 工程模式界面设计 | 第67-69页 |
| 5.6 本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 结论与展望 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第74-75页 |
| 附件 | 第75-86页 |
| 附件一 上位机GUI界面设计部分程序清单 | 第75-86页 |