IC设计工具应用中的限制性因素研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·EDA 技术综述 | 第8-9页 |
| ·收敛与混沌 | 第9-10页 |
| ·国内外研究述评 | 第10-11页 |
| ·仿真收敛问题 | 第10页 |
| ·设计中的混沌现象 | 第10-11页 |
| ·研究工作与创新点 | 第11-13页 |
| 第二章 电路仿真中的收敛问题 | 第13-23页 |
| ·HSPICE 概述 | 第13-14页 |
| ·电路仿真理论 | 第14-15页 |
| ·HSPICE 算法及其收敛问题 | 第15-19页 |
| ·牛顿迭代法 | 第16-17页 |
| ·牛顿迭代法的收敛性 | 第17-18页 |
| ·HSPICE 收敛的算法依据 | 第18-19页 |
| ·研究范式 | 第19-22页 |
| ·实验相关工具概论 | 第19-21页 |
| ·不收敛检测方法与流程 | 第21页 |
| ·变量数据分析流程 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 电路仿真收敛问题的解决方案 | 第23-38页 |
| ·基于电路及工具自身的解决方案 | 第23-28页 |
| ·HSPICE 收敛性问题分析 | 第23-25页 |
| ·HSPICE 收敛性问题解决方案 | 第25-28页 |
| ·基于平台限制性因素的解决方案 | 第28-36页 |
| ·基于不同平台的测试实验 | 第28-32页 |
| ·基于平台限制性因素的解决方案 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 电路设计中的混沌现象 | 第38-46页 |
| ·混沌理论的基本概念 | 第38-39页 |
| ·EDA 工具应用中的混沌现象 | 第39-40页 |
| ·EDA 工具应用中混沌现象的研究范式 | 第40-45页 |
| ·实验相关概论及流程 | 第40-44页 |
| ·基于DC 产生混沌现象的分析与克服 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 总结与展望 | 第46-48页 |
| ·总结 | 第46-47页 |
| ·展望 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 附录 | 第51-54页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
