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基于TSV的三维芯片热力学分析

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-17页
    1.1 研究的背景第8-13页
    1.2 课题的研究内容和技术方案第13-17页
2 有限元法简介以及热分析基础第17-24页
    2.1 有限元法理论第17-19页
    2.2 ANSYS有限元仿真软件第19-22页
    2.3 热分析基础第22页
    2.4 封装热应力的有限元分析模型第22-23页
    2.5 本章小结第23-24页
3 TSV芯片单元的三维建模第24-34页
    3.1 TSV芯片有限元模型的建立第24-28页
    3.2 TSV芯片单元热分析模型第28-29页
    3.3 TSV芯片单元电分析模型第29-33页
    3.4 本章小结第33-34页
4 TSV芯片单元的热分析第34-48页
    4.1 引言第34页
    4.2 TSV热效应分析第34-46页
    4.3 本章小结第46-48页
5 TSV芯片单元的热应力分析第48-67页
    5.1 引言第48-49页
    5.2 TSV结构与热应力的关系第49-55页
    5.3 TSV材料与热应力的关系第55-63页
    5.4 TSV热膨胀位移量分析第63-65页
    5.5 本章小结第65-67页
6 总结与展望第67-69页
    6.1 总结第67-68页
    6.2 展望第68-69页
致谢第69-70页
参考文献第70-74页
附录1 攻读硕士学位期间发表论文目录第74页

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