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功率模块的三维封装垂直互连可靠性有限元分析

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第1章 绪论第10-20页
    1.1 课题来源及研究的背景和意义第10-12页
    1.2 国内外在该方向的研究现状及分析第12-18页
        1.2.1 系统级封装技术第12-14页
        1.2.2 基板间垂直互连技术第14-15页
        1.2.3 封装互连的可靠性问题第15-16页
        1.2.4 封装互连可靠性研究方法第16-18页
    1.3 本文研究内容第18-20页
第2章 有限元理论与模型研究第20-31页
    2.1 有限元模拟方法简介第20-21页
    2.2 钎料粘塑性模型研究与验证第21-24页
    2.3 有限元模型的建立第24-29页
        2.3.1 模型中材料的单元类型及参数第24-25页
        2.3.2 模型简化与模型尺寸第25-26页
        2.3.3 APDL参数化建模方法第26-27页
        2.3.4 网格划分第27-29页
    2.4 本章小结第29-31页
第3章 三维封装结构热循环可靠性有限元模拟第31-51页
    3.1 热结构分析数值模拟方法与流程第31-33页
    3.2 温度场理论第33-36页
        3.2.1 本文涉及到的基本传热方式第34页
        3.2.2 单值性条件第34-35页
        3.2.3 稳态问题和瞬态问题第35-36页
    3.3 热应力的概念第36-37页
    3.4 三维封装在热循环下的有限元分析第37-49页
        3.4.1 热分析第37-39页
        3.4.2 结构变形分析第39-41页
        3.4.3 上层焊球热应力分析第41-45页
        3.4.4 下层焊球热应力分析第45-47页
        3.4.5 焊点寿命预测第47-49页
    3.5 本章小结第49-51页
第4章 三维封装结构恒定加速度可靠性有限元模拟第51-61页
    4.1 恒定加速度试验方法第51-52页
    4.2 恒定加速度试验影响因素第52-53页
    4.3 三维封装在恒定加速度条件下的有限元分析第53-59页
        4.3.1 恒定加速度有限元模拟条件简化第53页
        4.3.2 加速度载荷的施加第53-55页
        4.3.3 恒定加速度试验可靠性第55-59页
    4.4 本章小结第59-61页
第5章 三维封装结构的设计优化第61-76页
    5.1 封装模型参数的设计范围及优化方式第61-63页
    5.2 封装结构参数优化第63-73页
        5.2.1 焊球直径的影响第63-65页
        5.2.2 焊球高度的影响第65-67页
        5.2.3 焊盘直径的影响第67-69页
        5.2.4 上层基板长度的影响第69-71页
        5.2.5 等比例改变焊球尺寸的影响第71-73页
    5.3 最终优化结果第73-74页
    5.4 本章小结第74-76页
结论第76-78页
参考文献第78-84页
致谢第84页

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