| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 统计过程控制技术的发展 | 第15-16页 |
| 1.2 研究背景与意义 | 第16-17页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第17页 |
| 1.4 本文主要的研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 SPC的理论基础与嵌套性检验 | 第19-33页 |
| 2.1 SPC的理论基础 | 第19-22页 |
| 2.1.1 基本概念 | 第19-21页 |
| 2.1.2 SPC的理论基础 | 第21-22页 |
| 2.2 嵌套性检验 | 第22-32页 |
| 2.2.1 单因素方差分析(one-way ANOVA)的模型与条件 | 第23页 |
| 2.2.2 单因素方差分析的方法 | 第23-25页 |
| 2.2.3 嵌套性检验的方法与步骤 | 第25-27页 |
| 2.2.4 实例说明 | 第27-32页 |
| 2.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 一阶嵌套控制图 | 第33-45页 |
| 3.1 一阶嵌套模型 | 第33-36页 |
| 3.1.1 一阶嵌套模型及常见错误 | 第33-34页 |
| 3.1.2 实例说明 | 第34-36页 |
| 3.2 一阶嵌套“均值-标准偏差“控制图 | 第36-42页 |
| 3.2.1 一阶嵌套均值控制图 | 第36-40页 |
| 3.2.2 一阶嵌套标准偏差控制图 | 第40-41页 |
| 3.2.3 一阶嵌套“均值-标准偏差”控制图的绘制步骤 | 第41页 |
| 3.2.4 实例说明 | 第41-42页 |
| 3.3 一阶嵌套“均值-极差”控制图 | 第42-44页 |
| 3.3.1 均值控制图 | 第42页 |
| 3.3.2 极差控制图 | 第42-43页 |
| 3.3.3 一阶嵌套“均值-极差”控制图的绘制步骤 | 第43页 |
| 3.3.4 实例说明 | 第43-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 二阶嵌套控制图 | 第45-71页 |
| 4.1 二阶嵌套模型 | 第45-47页 |
| 4.2 二阶嵌套控制图的组成 | 第47-48页 |
| 4.3 子批均值统计过程控制 | 第48-55页 |
| 4.3.1 M_(xbar)-S_(xbar)控制图 | 第48-52页 |
| 4.3.2 M_(xbar)-R_(xbar)控制图 | 第52-54页 |
| 4.3.3 两种控制图的对比 | 第54-55页 |
| 4.4 子批标准偏差的统计过程控制 | 第55-67页 |
| 4.4.1 M_s-S_s控制图 | 第55-63页 |
| 4.4.2 M_s-R_s控制图 | 第63-67页 |
| 4.4.3 两种控制图的对比 | 第67页 |
| 4.5 二阶嵌套控制图诊断功能说明 | 第67-69页 |
| 4.5.1 诊断功能说明 | 第68页 |
| 4.5.2 实例说明 | 第68-69页 |
| 4.6 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 软件工具说明 | 第71-77页 |
| 5.1 软件工具界面介绍 | 第71-72页 |
| 5.2 软件工具的操作 | 第72-75页 |
| 5.2.1 打开数据文件 | 第72-73页 |
| 5.2.2 数据读取 | 第73页 |
| 5.2.3 绘制相应的控制图 | 第73-74页 |
| 5.2.4 生成SPC报告 | 第74-75页 |
| 5.3 本章小结 | 第75-77页 |
| 第六章 全文总结 | 第77-79页 |
| 6.1 本文的主要贡献 | 第77页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 附表 一 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 作者简介 | 第85-86页 |
