| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题的背景与意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第12-13页 |
| 1.4 论文组织 | 第13-15页 |
| 第二章 在片测试平台设计原理 | 第15-29页 |
| 2.1 在片测试平台组成 | 第15-16页 |
| 2.2 S参数在片校准技术分析 | 第16-23页 |
| 2.3 源功率校准技术 | 第23-25页 |
| 2.4 接收机功率校准技术 | 第25-26页 |
| 2.5 噪声系数测量方法 | 第26-28页 |
| 2.6 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 10-40GHz IC性能测试参数分析 | 第29-39页 |
| 3.1 待测电路类型分析 | 第29-31页 |
| 3.2 线性参数 | 第31-36页 |
| 3.3 非线性参数 | 第36-38页 |
| 3.4 噪声参数 | 第38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 10-40GHz IC在片测试平台方案设计 | 第39-57页 |
| 4.1 在片测试平台设计方案 | 第39-40页 |
| 4.2 多功能多参数在片测试子平台设计方案 | 第40-41页 |
| 4.3 脉冲功率在片测试子平台设计方案 | 第41-43页 |
| 4.4 测试平台硬件选择 | 第43-46页 |
| 4.5 测试附件选择 | 第46-54页 |
| 4.6 多功能驱动器设计 | 第54-55页 |
| 4.7 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 在片测试平台实现 | 第57-69页 |
| 5.1 多功能多参数在片测试子平台 | 第57-60页 |
| 5.2 脉冲功率在片测试子平台 | 第60-66页 |
| 5.3 在片测试平台的自动化设计 | 第66-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 在片测试平台验证及分析 | 第69-77页 |
| 6.1 多功能多参数在片测试子平台验证 | 第69-71页 |
| 6.2 脉冲功率在片测试子平台验证 | 第71-73页 |
| 6.3 测试平台稳定性分析 | 第73-76页 |
| 6.4 本章小结 | 第76-77页 |
| 第七章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 7.1 总结 | 第77页 |
| 7.2 展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第83页 |