| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景与意义 | 第7-8页 |
| ·研究领域国内外研究动态与发展趋势 | 第8-10页 |
| ·研究内容与研究目标 | 第10-11页 |
| 2 BCD 工艺与高压大功率器件结构设计 | 第11-25页 |
| ·BCD 工艺简介 | 第11页 |
| ·BCD 工艺中的隔离技术 | 第11-12页 |
| ·PN 结隔离 | 第11-12页 |
| ·自隔离 | 第12页 |
| ·介质隔离 | 第12页 |
| ·BCD 工艺的关键技术研究 | 第12-15页 |
| ·RESURF 技术 | 第13-14页 |
| ·场板技术 | 第14-15页 |
| ·LDD 技术 | 第15页 |
| ·场限环技术 | 第15页 |
| ·VLD 技术 | 第15页 |
| ·BCD 工艺中的功率器件及其结构设计 | 第15-24页 |
| ·BCD 工艺中高压 MOS 管 | 第15-19页 |
| ·BCD 工艺中功率 LDMOS 管 | 第19-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 BCD 工艺中的关键模块电路分析与设计 | 第25-54页 |
| ·概述 | 第25页 |
| ·BCD 工艺的软启动电路设计 | 第25-28页 |
| ·BCD 工艺的基准电压源设计 | 第28-33页 |
| ·带隙基准电压源的基本原理 | 第28-30页 |
| ·BCD 工艺的带隙基准电路的设计 | 第30-33页 |
| ·BCD 工艺的欠压锁定电路的设计 | 第33-36页 |
| ·传统欠压锁定电路的设计思路 | 第33-34页 |
| ·BCD 工艺的欠压锁定电路 | 第34-35页 |
| ·BCD 工艺的欠压锁定电路仿真 | 第35-36页 |
| ·BCD 工艺的过压保护电路设计 | 第36-39页 |
| ·BCD 工艺的比较器设计 | 第39-40页 |
| ·比较器电路设计 | 第39-40页 |
| ·电路仿真 | 第40页 |
| ·BCD 工艺的振荡器设计 | 第40-43页 |
| ·振荡条件 | 第41页 |
| ·BCD 工艺的振荡器电路及工作原理 | 第41-42页 |
| ·BCD 工艺的振荡器的仿真 | 第42-43页 |
| ·BCD 工艺的分频器电路设计 | 第43-44页 |
| ·BCD 工艺的分频电路工作原理及电路设计 | 第43-44页 |
| ·BCD 工艺的分频电路仿真 | 第44页 |
| ·BCD 工艺的驱动电路设计 | 第44-50页 |
| ·驱动电路原理 | 第45页 |
| ·电平移位 | 第45-47页 |
| ·驱动电路设计 | 第47-49页 |
| ·驱动电路仿真 | 第49-50页 |
| ·误差放大器 | 第50-53页 |
| ·误差放大器电路结构及工作原理 | 第50页 |
| ·误差放大器性能指标的仿真 | 第50-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 4 基于 BCD 工艺的 AC-DC 控制器仿真验证与版图设计 | 第54-68页 |
| ·AC-DC 控制器的调制方式 | 第54-55页 |
| ·AC-DC 控制器的控制模式 | 第55-57页 |
| ·基于 BCD 工艺的控制器的仿真验证 | 第57-60页 |
| ·基于 BCD 工艺的控制器的回路设计 | 第57页 |
| ·单管反激变换器 | 第57-59页 |
| ·基于 BCD 工艺的控制器的应用 | 第59页 |
| ·基于 BCD 工艺的控制器应用电路的仿真 | 第59-60页 |
| ·基于 BCD 工艺的 AC-DC 控制器的版图设计 | 第60-65页 |
| ·BCD 工艺的控制器电路高、低压管划分 | 第60-63页 |
| ·BCD 工艺版图设计流程 | 第63页 |
| ·BCD 工艺版图设计注意事项 | 第63-64页 |
| ·BCD 工艺的控制器版图设计 | 第64-65页 |
| ·基于 BCD 工艺的 AC-DC 控制芯片的版图验证 | 第65-67页 |
| ·DRC 验证 | 第66页 |
| ·LVS 验证 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 5 结论 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 附录 | 第73页 |
