基于JTAG的MCU调试模块设计与实现
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-11页 |
| ·课题研究的背景和意义 | 第8-9页 |
| ·课题的研究主要内容 | 第9-10页 |
| ·课题的研究成果 | 第10页 |
| ·论文内容及结构安排 | 第10-11页 |
| 2 JTAG总体结构 | 第11-23页 |
| ·JTAG简介 | 第11-18页 |
| ·TAP控制器 | 第14-17页 |
| ·指令寄存器 | 第17页 |
| ·测试数据寄存器 | 第17-18页 |
| ·微控器简介 | 第18-20页 |
| ·JTAG总体结构 | 第20-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 3 JTAG各组成模块设计 | 第23-46页 |
| ·TAP控制器设计 | 第23-26页 |
| ·指令寄存器设计 | 第26-29页 |
| ·测试数据寄存器设计 | 第29-38页 |
| ·MDB寄存器设计 | 第29-30页 |
| ·MAB寄存器设计 | 第30-31页 |
| ·旁路寄存器设计 | 第31-32页 |
| ·Jtag控制寄存器CSR设计 | 第32-38页 |
| ·熔丝检测设计 | 第38-41页 |
| ·熔断加密的时序及方法 | 第38-39页 |
| ·熔丝控制电路的设计 | 第39-40页 |
| ·熔丝电路设计 | 第40-41页 |
| ·EEM模块设计 | 第41-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 4 JTAG调试功能的配置及实现 | 第46-62页 |
| ·JTAG对CPU的启停控制 | 第46-47页 |
| ·设置程序计数器 | 第47-48页 |
| ·CPU从JTAG控制中释放 | 第48页 |
| ·访问非FLASH存储空间 | 第48-51页 |
| ·读访问 | 第48-49页 |
| ·写访问 | 第49-50页 |
| ·连续读写 | 第50-51页 |
| ·JTAG控制FLASH | 第51-61页 |
| ·微控器FLASH存储器结构 | 第51-53页 |
| ·FLASH擦除操作 | 第53-54页 |
| ·FLASH写操作 | 第54-56页 |
| ·FLASH控制寄存器 | 第56-57页 |
| ·通过JTAG对FLASH编程 | 第57-59页 |
| ·通过JTAG对FLASH擦除 | 第59-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 5 仿真验证 | 第62-70页 |
| ·指令寄存器，数据寄存器操作 | 第62-63页 |
| ·指令移位操作IR-Shift | 第62-63页 |
| ·数据移位操作DR-Shift | 第63页 |
| ·通过JTAG对CPU的操作 | 第63-65页 |
| ·控制CPU | 第63-64页 |
| ·将CPU设置为取指令状态 | 第64-65页 |
| ·通过JTAG对FLASH操作 | 第65-67页 |
| ·FLASH段擦除 | 第65-66页 |
| ·写FLASH | 第66-67页 |
| ·通过JTAG 对SRAM的操作 | 第67-68页 |
| ·写SRAM | 第67页 |
| ·读SRAM | 第67-68页 |
| ·对熔丝的各项操作 | 第68-69页 |
| ·熔丝检测操作 | 第68页 |
| ·熔断熔丝操作 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 6 版图设计及测试 | 第70-73页 |
| ·版图实现 | 第70-71页 |
| ·测试环境搭建 | 第71-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 7 结论与展望 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-76页 |
