常温太赫兹检测器CMOS读出电路设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 太赫兹检测器国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 读出电路发展动态 | 第11-13页 |
| 1.4 本文主要研究内容与组织结构 | 第13-16页 |
| 1.4.1 研究内容和设计指标 | 第13页 |
| 1.4.2 论文组织结构 | 第13-16页 |
| 第2章 Nb_5N_6太赫兹探测器读出电路基础 | 第16-26页 |
| 2.1 Nb_5N_6太赫兹探测器 | 第16-19页 |
| 2.2 读出电路的主要性能参数 | 第19-20页 |
| 2.3 CMOS读出电路结构 | 第20-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 第3章 CTIA型单元读出电路的设计 | 第26-50页 |
| 3.1 读出电路单元系统设计 | 第26-28页 |
| 3.2 读出电路的模块设计 | 第28-46页 |
| 3.2.1 运算放大器的设计 | 第28-35页 |
| 3.2.2 带隙基准的设计 | 第35-40页 |
| 3.2.3 CDS电路的设计 | 第40-43页 |
| 3.2.4 SC放大器的设计 | 第43-46页 |
| 3.3 读出电路的单元结构和级联仿真结果 | 第46-47页 |
| 3.4 本章小结 | 第47-50页 |
| 第4章 4×4阵列读出电路的系统设计 | 第50-62页 |
| 4.1 阵列读出电路的系统架构和时序设计 | 第50-52页 |
| 4.2 时序电路的模块设计 | 第52-60页 |
| 4.2.1 分频器 | 第52-55页 |
| 4.2.2 行移位寄存器 | 第55页 |
| 4.2.3 控制信号产生电路 | 第55-57页 |
| 4.2.4 数字复接器 | 第57-60页 |
| 4.3 时序电路的整体仿真 | 第60-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 系统的版图设计与后仿真 | 第62-74页 |
| 5.1 版图设计准则 | 第62-66页 |
| 5.1.1 可靠性设计 | 第62-63页 |
| 5.1.2 寄生优化设计 | 第63-64页 |
| 5.1.3 匹配性设计 | 第64-66页 |
| 5.1.4 抗干扰设计 | 第66页 |
| 5.2 系统的版图和后仿真 | 第66-72页 |
| 5.2.1 系统的版图 | 第66-69页 |
| 5.2.2 系统的后仿真结果 | 第69-72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-74页 |
| 第6章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 6.1 总结 | 第74-75页 |
| 6.2 展望 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第82页 |
