非完全边界扫描测试与测试点的优化
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第6-8页 |
第1章 引言 | 第8-13页 |
·研究背景及意义 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-11页 |
·研究内容和论文安排 | 第11-13页 |
·研究内容 | 第11-12页 |
·论文安排 | 第12-13页 |
第2章 非完全边界扫描技术基础 | 第13-22页 |
·边界扫描测试的基本原理 | 第13页 |
·边界扫描测试的结构 | 第13-16页 |
·TAP 测试访问端口 | 第14-15页 |
·指令寄存器 | 第15页 |
·测试数据寄存器 | 第15-16页 |
·非完全边界扫描测试分析 | 第16-21页 |
·非完全边界扫描测试基本原理和过程 | 第17-19页 |
·非完全边界扫描电路优化设计 | 第19-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第3章 非完全边界扫描测试点的优化 | 第22-31页 |
·测试点优化的基本思路 | 第22-23页 |
·基于重要度的测试点优化选择方法 | 第23-27页 |
·基于重要度的测试点优化算法模型 | 第23-26页 |
·基于重要度的优化算法求解 | 第26页 |
·基于重要度的优化算法优缺点分析 | 第26-27页 |
·基于故障模式和危害度的测试点优化算法 | 第27-30页 |
·基于故障模式和危害度的测试点优化算法模型 | 第27-29页 |
·基于故障模式和危害度的的优化算法求解 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第4章 非完全边界扫描测试算法研究 | 第31-47页 |
·非完全边界扫描测试的基本理论和概念 | 第31-37页 |
·基本概念 | 第31-32页 |
·故障模型 | 第32-34页 |
·数学模型 | 第34-35页 |
·基本定理 | 第35-37页 |
·常规测试算法分析 | 第37-41页 |
·移位“1”算法 | 第38页 |
·改良计数序列算法 | 第38-39页 |
·等权值抗误判算法 | 第39-41页 |
·优化算法—等权值标识算法 | 第41-45页 |
·算法原理 | 第41-42页 |
·算法描述 | 第42-44页 |
·算法的综合性能 | 第44-45页 |
·本章小结 | 第45-47页 |
第5章 总结与展望 | 第47-48页 |
参考文献 | 第48-50页 |
致谢 | 第50页 |