射频芯片高低温自动测试平台的实现
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 自动化测试的发展 | 第8-9页 |
| 1.2 论文的研究意义及必要性 | 第9-11页 |
| 1.3 论文主要内容与结构安排 | 第11-12页 |
| 第二章 高低温自动测试系统的分析与设计 | 第12-18页 |
| 2.1 高低温试验箱概述 | 第12-13页 |
| 2.2 NRF24L01 射频芯片工作模式 | 第13-14页 |
| 2.3 系统整体设计方案 | 第14-18页 |
| 2.3.1 上位机设计方案 | 第14-16页 |
| 2.3.2 下位机设计方案 | 第16-18页 |
| 第三章 自动测量系统中的仪器控制技术 | 第18-23页 |
| 3.1 虚拟仪器概述 | 第18-19页 |
| 3.2 虚拟仪器体系与结构 | 第19-20页 |
| 3.3 虚拟仪器的SCPI命令 | 第20页 |
| 3.4 仪器总线技术 | 第20-22页 |
| 3.5 自动测量系统中的频谱仪控制技术 | 第22-23页 |
| 第四章 测试平台上位机的实现 | 第23-33页 |
| 4.1 主界面的设计 | 第23-24页 |
| 4.2 虚拟仪器技术中的VISA及实现 | 第24-25页 |
| 4.3 频谱仪初始化模块 | 第25-26页 |
| 4.4 ADO访问ACCESS数据库技术 | 第26-28页 |
| 4.5 数据库访问模块 | 第28-31页 |
| 4.6 测试平台控制模块 | 第31-32页 |
| 4.7 显示模块 | 第32-33页 |
| 第五章 测试平台下位机的实现 | 第33-38页 |
| 5.1 测试平台的下位机结构 | 第33页 |
| 5.2 实现上位机对下位机的控制 | 第33-34页 |
| 5.3 串口通信技术 | 第34-35页 |
| 5.4 下位机软件设计流程 | 第35-36页 |
| 5.5 NRF24L01 射频芯片的发送模式设置 | 第36-38页 |
| 第六章 自动化测试平台的实际应用 | 第38-44页 |
| 6.1 测试平台环境 | 第38-39页 |
| 6.2 测试平台应用 | 第39-42页 |
| 6.2.1 测试数据获取 | 第39-40页 |
| 6.2.2 测试数据拟合 | 第40-41页 |
| 6.2.3 测试结果分析 | 第41-42页 |
| 6.3 测试平台特点 | 第42-44页 |
| 第七章 结论与展望 | 第44-46页 |
| 7.1 本论文的主要工作 | 第44-45页 |
| 7.2 未来工作展望 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
