| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-8页 |
| 1.2 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.3 本文研究思路 | 第9-11页 |
| 第二章 集成电路混合测试理论 | 第11-24页 |
| 2.1 混合信号概述 | 第11-13页 |
| 2.2 测试基本理论 | 第13-24页 |
| 第三章 集成电路测试流程及设备 | 第24-37页 |
| 3.1 芯片测试流程 | 第24-26页 |
| 3.2 芯片的测试设备 | 第26-34页 |
| 3.3 测试机功能介绍 | 第34-37页 |
| 第四章 MC35XS3400芯片测试方案 | 第37-48页 |
| 4.1 MC35XS3400芯片结构 | 第37-42页 |
| 4.2 MC35XS3400芯片的主要功能 | 第42-44页 |
| 4.3 MC35XS3400测试程序分析 | 第44-48页 |
| 第五章 MC35XS3400芯片测试优化 | 第48-61页 |
| 5.1 芯片测试中发现的EOS | 第48-51页 |
| 5.2 芯片测试程序问题分析 | 第51-53页 |
| 5.3 分析失效机制 | 第53-57页 |
| 5.4 优化方案设计 | 第57-61页 |
| 第六章 总结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |