| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-24页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第15-18页 |
| 1.2 电路老化效应与泄漏功耗 | 第18-20页 |
| 1.2.1 电路的老化效应 | 第18-19页 |
| 1.2.2 电路的泄漏功耗 | 第19-20页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第20-22页 |
| 1.3.1 NBTI补偿技术 | 第20页 |
| 1.3.2 NBTI缓解技术 | 第20-21页 |
| 1.3.3 协同缓解NBTI与泄漏功耗技术 | 第21-22页 |
| 1.4 论文主要工作和内容安排 | 第22-24页 |
| 1.4.1 论文主要工作 | 第22页 |
| 1.4.2 论文内容安排 | 第22-24页 |
| 第二章 研究工作基础 | 第24-32页 |
| 2.1 NBTI效应与模型 | 第24-28页 |
| 2.1.1 NBTI效应 | 第24-25页 |
| 2.1.2 NBTI模型 | 第25-28页 |
| 2.2 静态时序分析软件 | 第28-30页 |
| 2.3 Hspice仿真工具 | 第30-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 输入向量控制与传输门插入缓解电路NBTI老化 | 第32-48页 |
| 3.1 研究动机与目的 | 第32-34页 |
| 3.2 逻辑门的输入向量选择原则 | 第34-37页 |
| 3.3 输入向量控制与传输门插入方案 | 第37-42页 |
| 3.3.1 子电路的划分 | 第37-39页 |
| 3.3.2 输入向量控制与传输门插入算法 | 第39-42页 |
| 3.4 实验结果与分析 | 第42-47页 |
| 3.4.1 实验条件设置 | 第42-43页 |
| 3.4.2 实验结果与分析 | 第43-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 协同缓解电路NBTI与降低泄漏功耗 | 第48-61页 |
| 4.1 研究动机与目的 | 第48-50页 |
| 4.2 电路功耗分析 | 第50-51页 |
| 4.3 协同缓解电路NBTI与降低泄漏功耗方案 | 第51-55页 |
| 4.3.1 最优输入向量选择原则 | 第52-54页 |
| 4.3.2 协同缓解电路NBTI与降低泄漏功耗算法 | 第54-55页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第55-60页 |
| 4.4.1 实验条件设置 | 第55-56页 |
| 4.4.2 实验结果与分析 | 第56-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 结论与展望 | 第61-63页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第61-62页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士期间的学术活动及成果情况 | 第67页 |