| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第7-8页 |
| ·芯片运行的可靠性 | 第8页 |
| ·芯片制造的成本 | 第8页 |
| ·低功耗设计特点和流程 | 第8-11页 |
| ·设计特点 | 第8-9页 |
| ·设计流程 | 第9-11页 |
| ·本文的主要结构和工作 | 第11-12页 |
| 第二章 低功耗技术综述 | 第12-22页 |
| ·功耗来源分析 | 第12-14页 |
| ·动态开关功耗 | 第12-13页 |
| ·短路功耗 | 第13页 |
| ·泄漏功耗 | 第13-14页 |
| ·低功耗技术 | 第14-21页 |
| ·工艺级低功耗优化技术 | 第14-15页 |
| ·版图级低功耗优化技术 | 第15页 |
| ·门级低功耗优化技术 | 第15-17页 |
| ·寄存器传输级低功耗优化技术 | 第17-20页 |
| ·系统级低功耗优化技术 | 第20-21页 |
| ·电路级低功耗优化技术 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 低功耗能量回收触发器 | 第22-36页 |
| ·能量回收技术原理及其实现 | 第22-27页 |
| ·能量回收技术的原理 | 第22-24页 |
| ·能量回收技术的实现 | 第24-27页 |
| ·低功耗触发器原理分析 | 第27-31页 |
| ·能量回收触发器的设计 | 第31-35页 |
| ·传输门能量回收触发器(TGERFF)和预取值静态脉冲触发器(PCSPFF) | 第32-33页 |
| ·单边沿触发静态差分触发器（SETSDFF） | 第33-34页 |
| ·仿真结果 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 比较低功耗单和双边沿触发器 | 第36-48页 |
| ·边沿触发器功耗分析 | 第36-37页 |
| ·边沿触发器时间特性 | 第37-39页 |
| ·单和双边沿触发器的设计 | 第39-47页 |
| ·传统的边沿触发器 | 第39-44页 |
| ·双边沿触发静态差分触发器(DETSDFF) | 第44-45页 |
| ·实验结果比较 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 总结与展望 | 第48-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 附录：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第54页 |