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纳米MOSFET电学参数的分析与建模

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-12页
第一章 绪论第12-24页
 §1.1 小尺寸CMOS器件的研究与进展第12-15页
 §1.2 纳米尺度的CMOS面临的挑战第15-21页
  §1.2.1 载流子的输运特性第15-16页
  §1.2.2 器件的驱动电流第16-18页
  §1.2.3 器件的静态功耗第18-20页
  §1.2.4 器件的可靠性与稳定性第20页
  §1.2.5 器件的建模与模拟第20-21页
 §1.3 本论文的研究工作第21-23页
 §1.4 本章小结第23-24页
第二章 纳米MOSFET器件中载流子的弹道输运及迁移率第24-44页
 §2.1 弹道输运(BT)模型第24-34页
  §2.1.1 弹道输运(BT)物理本质第24-28页
  §2.1.2 适用于纳米MOSFET的准弹道输运宏模型第28-34页
 §2.2 纳米MOSFET迁移率的统计分析第34-42页
  §2.2.1 纳米器件中载流子的分布函数第34-37页
  §2.2.2 纳米器件载流子迁移率模型第37-38页
  §2.2.3 模型计算与分析第38-42页
 §2.3 本章小结第42-44页
第三章 纳米MOSFET阈值电压的量子效应第44-66页
 §3.1 一维量子效应及其对阈值电压的影响第44-54页
  §3.1.1 一维量子效应的解析模型第44-46页
  §3.1.2 纳米MOSFET阈值电压的一维量子效应第46-49页
  §3.1.3 计算结果分析与讨论第49-54页
 §3.2 二维量子效应对阈值电压的修正第54-65页
  §3.2.1 二维量子效应的研究第55-58页
  §3.2.2 二维量子效应对阈值电压的修正第58-60页
  §3.2.3 计算结果分析与讨论第60-65页
 §3.3 本章小结第65-66页
第四章 纳米MOSFET栅电容的量子效应第66-86页
 §4.1 纳米MOSFET反型层中的量子效应对栅电容的影响第67-74页
  §4.1.1 反型层电容C_(inv)的解析模型第67-69页
  §4.1.2 耗尽层电容C_(dep)的量子效应的解析模型第69-70页
  §4.1.3 计算结果分析与讨论第70-74页
 §4.2 纳米MOSFET多晶硅栅中的量子效应对栅电容的影响第74-83页
  §4.2.1 多晶硅栅中的量子效应第75-77页
  §4.2.2 栅电极电容的解析模型第77-78页
  §4.2.3 计算结果分析与讨论第78-83页
 §4.3 纳米MOSFET栅电容减小模型第83-85页
 §4.4 本章小结第85-86页
第五章 纳米MOSFET亚阈值电流的控制第86-108页
 §5.1 MOSFET亚阈值电流的基本理论第87-100页
  §5.1.1 长沟道MOSFET亚阈值电流第87-90页
  §5.1.2 短沟道MOSFET亚阈值电流的修正第90-100页
 §5.2 纳米MOSFET亚阈值性能的研究第100-107页
  §5.2.1 亚阈值区表面电势的改进第101-103页
  §5.2.2 纳米MOSFET亚阈值电流与亚阈值摆幅第103-105页
  §5.2.3 计算结果分析与讨论第105-107页
 §5.3 本章小结第107-108页
第六章 总结与展望第108-111页
 §6.1 总结第108-109页
 §6.2 未来工作第109-111页
  §6.2.1 建立新的载流子输运宏模型第110页
  §6.2.2 射频MOSFET器件的建模立第110页
  §6.2.3 研制新型纳米器件第110-111页
参考文献第111-121页
插图清单第121-123页
Illustration List第123-126页
表格清单第126-127页
Table List第127-128页
致谢第128-129页
攻读学位期间发表的学术论文第129-130页
攻读学位期间参加的项目第130页

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