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基于0.18μm CMOS工艺的全数字锁相环设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-12页
    1.1 课题背景与意义第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-10页
    1.3 研究内容与设计指标第10-11页
    1.4 论文的组织结构第11-12页
第二章 锁相环基本理论第12-26页
    2.1 模拟锁相环介绍第12-17页
        2.1.1 基本结构和原理第12页
        2.1.2 模拟锁相环的数学模型第12-14页
        2.1.3 电荷泵锁相环第14-17页
    2.2 数字锁相环介绍第17-23页
        2.2.1 基本结构和原理第17页
        2.2.2 数字锁相环的数学模型第17-20页
        2.2.3 全数字锁相环介绍第20-23页
    2.3 全数字锁相环与电荷泵锁相环的比较第23-24页
    2.4 本章小结第24-26页
第三章 全数字锁相环设计第26-48页
    3.1 鉴频鉴相器设计第26-29页
        3.1.1 PFD的非理想特性第27页
        3.1.2 零死区PFD的电路设计第27-29页
    3.2 数控振荡器设计第29-35页
        3.2.1 DCO的抖动和功耗分析第30-34页
        3.2.2 基于反相器的环形DCO设计第34-35页
    3.3 可编程分频器设计第35-38页
        3.3.1 DMP设计第36-37页
        3.3.2 Pulse-Swallow型可编程分频器设计第37-38页
    3.4 控制器设计第38-44页
        3.4.1 频率初锁第38-40页
        3.4.2 初步锁相第40-43页
        3.4.3 抖动减小第43-44页
    3.5 系统复位信号设计第44-45页
    3.6 可综合代码的编写注意事项第45-46页
    3.7 本章小结第46-48页
第四章 全数字锁相环的后端设计第48-62页
    4.1 ASIC流程介绍第48-49页
    4.2 ASIC后端设计第49-59页
        4.2.1 逻辑综合第50-51页
        4.2.2 数据准备第51-52页
        4.2.3 布局规划第52-54页
        4.2.4 布局第54-55页
        4.2.5 时钟树综合第55-56页
        4.2.6 布线第56-57页
        4.2.7 可制造性设计并输出版图文件第57-59页
    4.3 ADPLL整体版图设计第59-60页
    4.4 本章小结第60-62页
第五章 全数字锁相环的后仿真与测试方案第62-68页
    5.1 ADPLL后仿真第62-65页
    5.2 测试方案第65-66页
    5.3 本章小结第66-68页
第六章 总结与展望第68-70页
    6.1 总结第68页
    6.2 展望第68-70页
参考文献第70-74页
致谢第74-76页
攻读硕士学位期间发表的论文第76页

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