| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-12页 |
| ·果蔬干燥过程中的品质无损检测的国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·高光谱图像技术在农产品品质与安全检测中的应用现状 | 第10-12页 |
| ·本论文的主要研究工作 | 第12-14页 |
| 第二章 高光谱图像技术及干燥装置 | 第14-22页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·高光谱图像技术 | 第14-18页 |
| ·高光谱成像的基本原理 | 第14-15页 |
| ·高光谱成像系统的组成 | 第15-16页 |
| ·高光谱图像的获取方法 | 第16-18页 |
| ·高光谱反射图像采集系统 | 第18页 |
| ·负压微波喷动干燥系统 | 第18-19页 |
| ·负压微波干燥装置的组成 | 第18页 |
| ·脉冲喷动微波真空干燥设备及干燥过程 | 第18-19页 |
| ·标准值测量所需仪器 | 第19页 |
| ·电热恒温鼓风干燥箱 | 第19页 |
| ·色差计 | 第19页 |
| ·偏最小二乘回归模型和性能评价 | 第19-21页 |
| ·偏最小二乘回归模型的原理 | 第19-20页 |
| ·模型评价指标 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于多模型融合的毛豆水分含量、颜色高光谱图像无损检测 | 第22-33页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·实验材料和数据采集 | 第22-24页 |
| ·材料与仪器 | 第22-23页 |
| ·毛豆样本高光谱图像的采集 | 第23-24页 |
| ·毛豆样本标准值的测量 | 第24页 |
| ·实验数据分析 | 第24-26页 |
| ·高光谱图像数据预处理 | 第24页 |
| ·毛豆样本的高光谱图像特征提取 | 第24-25页 |
| ·训练、测试样本划分及模型性能评价 | 第25-26页 |
| ·毛豆颜色和水分含量预测的多模型融合方法 | 第26页 |
| ·结果与分析 | 第26-32页 |
| ·四种特征的特征曲线 | 第26-29页 |
| ·毛豆水分含量、颜色的预测结果 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 干燥过程中玉米水分含量均匀度无损检测研究 | 第33-43页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·实验材料和图像的获取 | 第33-34页 |
| ·实验材料 | 第33页 |
| ·实验材料的干燥 | 第33页 |
| ·玉米粒高光谱图像的获取 | 第33-34页 |
| ·水分含量及水分含量均匀度的测量 | 第34页 |
| ·玉米粒高光谱图像的分割及特征提取 | 第34-37页 |
| ·玉米粒的图像分割 | 第34-36页 |
| ·玉米粒图像的特征提取 | 第36-37页 |
| ·玉米水分含量均匀度的预测结果 | 第37-42页 |
| ·水分含量均匀度间接法的预测结果 | 第37-40页 |
| ·高光谱图像技术直接法的预测结果 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 基于OSC/PLS的玉米水分含量均匀度检测 | 第43-49页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·正交信号校正法 | 第43-44页 |
| ·正交信号校正算法的基本原理 | 第43页 |
| ·正交信号校正算法的步骤 | 第43-44页 |
| ·正交信号校正对光谱矩阵的预处理 | 第44-46页 |
| ·水分含量均匀度的预测结果及讨论 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 主要结论与展望 | 第49-51页 |
| 主要结论 | 第49-50页 |
| 展望 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 附录: 作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第55页 |
