致谢 | 第7-8页 |
摘要 | 第8-9页 |
ABSTRACT | 第9页 |
第一章 绪论 | 第15-20页 |
1.1 课题研究背景 | 第15-16页 |
1.2 验证IP的研究意义 | 第16-18页 |
1.3 国内外研究现状 | 第18页 |
1.4 论文结构 | 第18-20页 |
第二章 UVM验证技术 | 第20-28页 |
2.1 UVM验证平台 | 第20-25页 |
2.1.1 UVM验证平台组件 | 第21-22页 |
2.1.2 验证平台的运行 | 第22-24页 |
2.1.3 UVM验证平台的可重用性 | 第24-25页 |
2.2 功能覆盖率验证方法 | 第25-27页 |
2.2.1 覆盖率的分类 | 第25页 |
2.2.2 功能覆盖率驱动验证 | 第25-27页 |
2.3 本章小结 | 第27-28页 |
第三章 SDIO标准协议与总线功能模型 | 第28-45页 |
3.1 SDIO标准协议 | 第28-39页 |
3.1.1 SDIO命令和响应 | 第30-33页 |
3.1.2 SDIO读写操作 | 第33-35页 |
3.1.3 SDIO接口状态描述 | 第35-39页 |
3.2 SDIO总线功能模型 | 第39-44页 |
3.2.1 SDIO Host BFM | 第40-41页 |
3.2.2 SDIO Card BFM | 第41-42页 |
3.2.3 BFM仿真测试 | 第42-44页 |
3.3 本章小结 | 第44-45页 |
第四章 SDIO VIP验证平台 | 第45-63页 |
4.1 验证计划 | 第45-46页 |
4.2 验证平台整体框架 | 第46-48页 |
4.3 Host与Card验证组件 | 第48-57页 |
4.3.1 SDIO Host Driver与Card Driver | 第50-53页 |
4.3.2 SDIO Host Sequencer与Card Sequencer | 第53-54页 |
4.3.3 SDIO Host Monitor与Card Monitor | 第54-56页 |
4.3.4 SDIO Host Agent与Card Agent | 第56-57页 |
4.4 Bus-Monitor与功能覆盖率模型 | 第57-60页 |
4.5 Scoreboard模块 | 第60-62页 |
4.6 本章小结 | 第62-63页 |
第五章 测试用例与验证结果 | 第63-75页 |
5.1 测试用例设计 | 第63-66页 |
5.1.1 随机测试 | 第65页 |
5.1.2 基础测试 | 第65-66页 |
5.1.3 错误测试 | 第66页 |
5.2 验证流程与结果 | 第66-73页 |
5.2.1 随机测试结果 | 第67-70页 |
5.2.2 基础测试结果 | 第70-71页 |
5.2.3 错误测试结果 | 第71-73页 |
5.3 验证结果分析 | 第73-74页 |
5.4 本章小结 | 第74-75页 |
第六章 总结和展望 | 第75-77页 |
6.1 总结 | 第75页 |
6.2 展望 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-80页 |
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第80页 |