W公司芯片封装质量管理系统设计
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-13页 |
第一章 绪论 | 第13-17页 |
·研究背景 | 第13页 |
·研究的目的和意义 | 第13-15页 |
·研究内容及结构 | 第15-16页 |
·研究方法及技术路线 | 第16-17页 |
第二章 与本论文相关的文献综述 | 第17-31页 |
·质量管理的发展 | 第17-21页 |
·质量检验 | 第17页 |
·统计质量控制 | 第17-18页 |
·全面质量管理及其发展趋势 | 第18-21页 |
·数据挖掘技术在质量管理体系中的应用 | 第21-31页 |
·质量数据和质量信息管理 | 第22-23页 |
·质量数据挖掘系统的建立步骤 | 第23-24页 |
·数据挖掘技术的常用研究方法 | 第24-31页 |
第三章 手机芯片封装质量管理系统的建立 | 第31-49页 |
·手机芯片封装质量管理综述 | 第31-39页 |
·手机芯片封装制造过程简述 | 第31-32页 |
·手机芯片封装制造系统模式分析 | 第32-33页 |
·手机芯片封装过程质量控制 | 第33-38页 |
·数据挖掘在手机芯片封装过程质量控制中的应用 | 第38-39页 |
·系统设计目标和设计思路 | 第39-40页 |
·系统功能模块设计 | 第40-47页 |
·建立质量影响因素的关联系统模型 | 第40-44页 |
·聚类分析进行质量控制 | 第44-47页 |
·手机芯片封装质量管理系统 | 第47-49页 |
第四章 实证与仿真研究 | 第49-63页 |
·实证对象分析 | 第49-51页 |
·数据预处理 | 第51-53页 |
·资料收集 | 第51页 |
·数据筛选 | 第51-52页 |
·权重分析 | 第52-53页 |
·质量控制实证研究 | 第53-61页 |
·系统分析 | 第53-56页 |
·低合格率数值提取 | 第56-58页 |
·问题点定位 | 第58-61页 |
·系统的准确性评价 | 第61-63页 |
第五章 结论 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-67页 |
附录 | 第67-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第70-71页 |
作者和导师简介 | 第71-72页 |
附件 | 第72-73页 |