单粒子瞬态效应硬件模拟技术研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 研究内容 | 第18-19页 |
| 1.4 论文结构 | 第19-21页 |
| 第二章 单粒子瞬态脉冲效应理论概述 | 第21-30页 |
| 2.1 单粒子瞬态效应的产生机理 | 第21-24页 |
| 2.1.1 电荷的沉积与收集 | 第21-22页 |
| 2.1.2 单粒子瞬态脉冲效应 | 第22-24页 |
| 2.2 单粒子瞬态脉冲传输特性分析 | 第24-27页 |
| 2.2.1 掩蔽效应 | 第24-27页 |
| 2.2.2 展宽效应 | 第27页 |
| 2.3 SET效应的故障模拟方法及其局限性 | 第27-29页 |
| 2.3.1 基于模型分析的软错误率算法 | 第27-28页 |
| 2.3.2 基于仿真软件的模拟 | 第28页 |
| 2.3.3 基于FPGA的硬件模拟 | 第28-29页 |
| 2.4 本章总结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于互连线的SET脉宽预测研究 | 第30-45页 |
| 3.1 HSPICE电路分析原理 | 第30-31页 |
| 3.2 互连线延时 | 第31-34页 |
| 3.2.1 互连线延时原理及模型 | 第31-33页 |
| 3.2.2 SET脉宽与电路延时关系 | 第33-34页 |
| 3.3 基于互连线延时的SET模拟系统 | 第34-44页 |
| 3.3.1 电路级SPICE仿真模型 | 第35-36页 |
| 3.3.2 仿真结果与分析 | 第36-39页 |
| 3.3.3 瞬态脉宽评估模型 | 第39-43页 |
| 3.3.4 有无互连线延时仿真对比 | 第43-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 基于多路径MBU现象的模拟基础 | 第45-68页 |
| 4.1 多路径MBU原理 | 第45-47页 |
| 4.1.1 多路径MBU现象的产生 | 第45-47页 |
| 4.1.2 多路径MBU对应的锁存概率模型 | 第47页 |
| 4.2 瞬态脉冲注入模型 | 第47-50页 |
| 4.2.1 异或门脉冲注入模型 | 第47-49页 |
| 4.2.2 改进型脉冲注入模型 | 第49-50页 |
| 4.3 瞬态脉冲传输特性的模拟 | 第50-56页 |
| 4.3.1 引入线负载的逻辑门延时 | 第50-51页 |
| 4.3.2 SDF原理及反标 | 第51-54页 |
| 4.3.3 瞬态脉冲传输特性的硬件表征 | 第54-56页 |
| 4.4 基于多路径MBU的验证平台 | 第56-66页 |
| 4.4.1 待测电路部分 | 第57-63页 |
| 4.4.2 系统模拟部分 | 第63-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 多路径MBU故障模拟及结果分析 | 第68-80页 |
| 5.1 软件仿真验证 | 第68-74页 |
| 5.1.1 在VCS软件平台上进行仿真 | 第68-72页 |
| 5.1.2 实验结果分析 | 第72-74页 |
| 5.2 硬件模拟验证 | 第74-78页 |
| 5.2.1 在FPGA硬件平台上进行模拟 | 第74-76页 |
| 5.2.2 实验结果分析 | 第76-78页 |
| 5.3 本章小结 | 第78-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-88页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第88页 |
