基于VMM验证方法学的NAND Flash控制器的验证
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 课题的研究背景与意义 | 第14-15页 |
| 1.2 芯片验证的发展史及现状 | 第15-16页 |
| 1.3 课题研究的主要内容和章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 VMM验证方法学 | 第18-24页 |
| 2.1 SystemVerilog语言简介 | 第18-19页 |
| 2.2 VMM验证方法学 | 第19-21页 |
| 2.3 VMM标准库介绍 | 第21-23页 |
| 2.4 本章小节 | 第23-24页 |
| 第三章 NAND Flash控制器模块分析 | 第24-34页 |
| 3.1 NAND Flash简介 | 第24-29页 |
| 3.1.1 NAND Flash结构特点 | 第24-25页 |
| 3.1.2 NAND Flash引脚信号 | 第25-26页 |
| 3.1.3 NAND Flash基本操作 | 第26-27页 |
| 3.1.4 NAND Flash接口时序分析 | 第27-29页 |
| 3.2 NAND Flash控制器模块 | 第29-32页 |
| 3.2.1 NAND Flash控制器结构 | 第29-31页 |
| 3.2.2 NAND Flash控制器接口信号 | 第31-32页 |
| 3.3 本章小节 | 第32-34页 |
| 第四章 NAND Flash控制器验证环境 | 第34-58页 |
| 4.1 验证功能点的提取 | 第34-39页 |
| 4.2 NAND Flash控制器验证环境 | 第39-40页 |
| 4.3 环境中验证组件的设计 | 第40-56页 |
| 4.3.1 测试用例Testcase | 第40-42页 |
| 4.3.2 事务发生器 | 第42-44页 |
| 4.3.3 总线驱动模型 | 第44-45页 |
| 4.3.4 接口 | 第45-46页 |
| 4.3.5 参考模型 | 第46-50页 |
| 4.3.6 错误注入模型 | 第50-52页 |
| 4.3.7 记分板 | 第52-53页 |
| 4.3.8 监视器 | 第53-54页 |
| 4.3.9 顶层Env环境 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小节 | 第56-58页 |
| 第五章 NAND Flash控制器验证结果分析 | 第58-72页 |
| 5.1 仿真工具介绍 | 第58页 |
| 5.2 验证环境的文件结构 | 第58-60页 |
| 5.3 验证环境的调试 | 第60-61页 |
| 5.3.1 验证环境单独调试 | 第60页 |
| 5.3.2 验证环境与设计代码联调 | 第60-61页 |
| 5.4 仿真结果 | 第61-68页 |
| 5.5 覆盖率结果 | 第68-71页 |
| 5.6 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结和展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-78页 |
| 作者简介 | 第78-79页 |
