高精度掩模版电子束光刻关键技术研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-22页 |
·引言 | 第10-12页 |
·传统光学光刻技术及其面临的挑战 | 第12-13页 |
·下一代光刻技术应用前景 | 第13-14页 |
·电子束光刻及其在高精度掩模制造中的应用 | 第14-15页 |
·论文的目的与意义 | 第15-19页 |
·论文的主要内容 | 第19-22页 |
第二章 电子束光刻技术 | 第22-52页 |
·电子束光刻技术发展概况 | 第22-25页 |
·电子束光刻技术原理 | 第25-33页 |
·电子束光刻系统结构 | 第25-29页 |
·电子束光刻系统分类 | 第29-31页 |
·电子光学原理简介 | 第31-33页 |
·电子束光刻工艺技术 | 第33-38页 |
·电子抗蚀剂 | 第38-40页 |
·邻近效应校正技术 | 第40-51页 |
·电子束光刻中的邻近效应机制 | 第40-42页 |
·邻近效应的物理描述 | 第42-47页 |
·邻近效应校正技术 | 第47-49页 |
·自一致邻近效应校正技术 | 第49-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第三章 高精度掩模版电子束光刻总体方案 | 第52-62页 |
·版图的数据处理 | 第52-53页 |
·束流和束斑的选择 | 第53-54页 |
·工艺参数调整 | 第54-56页 |
·工件台和板架的定位精度 | 第54页 |
·场拼接精度调整 | 第54-56页 |
·写策略 | 第56-58页 |
·光栅扫描电子束光刻方式的邻近效应校正 | 第58-59页 |
·实验方案 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-62页 |
第四章 高精度掩模版电子束光刻实验结果与分析 | 第62-78页 |
·版图处理 | 第63-64页 |
·曝光参数调整 | 第64页 |
·邻近效应校正 | 第64-66页 |
·曝光实验结果分析 | 第66-71页 |
·高精度掩模曝光制造结果 | 第71-76页 |
·本章小结 | 第76-78页 |
第五章 论文结论与展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第84页 |