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高精度掩模版电子束光刻关键技术研究

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
第一章 绪论第10-22页
   ·引言第10-12页
   ·传统光学光刻技术及其面临的挑战第12-13页
   ·下一代光刻技术应用前景第13-14页
   ·电子束光刻及其在高精度掩模制造中的应用第14-15页
   ·论文的目的与意义第15-19页
   ·论文的主要内容第19-22页
第二章 电子束光刻技术第22-52页
   ·电子束光刻技术发展概况第22-25页
   ·电子束光刻技术原理第25-33页
     ·电子束光刻系统结构第25-29页
     ·电子束光刻系统分类第29-31页
     ·电子光学原理简介第31-33页
   ·电子束光刻工艺技术第33-38页
   ·电子抗蚀剂第38-40页
   ·邻近效应校正技术第40-51页
     ·电子束光刻中的邻近效应机制第40-42页
     ·邻近效应的物理描述第42-47页
     ·邻近效应校正技术第47-49页
     ·自一致邻近效应校正技术第49-51页
   ·本章小结第51-52页
第三章 高精度掩模版电子束光刻总体方案第52-62页
   ·版图的数据处理第52-53页
   ·束流和束斑的选择第53-54页
   ·工艺参数调整第54-56页
     ·工件台和板架的定位精度第54页
     ·场拼接精度调整第54-56页
   ·写策略第56-58页
   ·光栅扫描电子束光刻方式的邻近效应校正第58-59页
   ·实验方案第59-60页
   ·本章小结第60-62页
第四章 高精度掩模版电子束光刻实验结果与分析第62-78页
   ·版图处理第63-64页
   ·曝光参数调整第64页
   ·邻近效应校正第64-66页
   ·曝光实验结果分析第66-71页
   ·高精度掩模曝光制造结果第71-76页
   ·本章小结第76-78页
第五章 论文结论与展望第78-80页
参考文献第80-82页
致谢第82-84页
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果第84页

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