摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-16页 |
第一章 绪论 | 第16-39页 |
·淀粉概述 | 第16页 |
·淀粉的结构 | 第16-21页 |
·淀粉的化学结构 | 第16-17页 |
·淀粉的颗粒结构 | 第17-21页 |
·脉冲电场(PEF)技术及其发展概况 | 第21-23页 |
·PEF 的杀菌机制 | 第23-24页 |
·脉冲电场对食品组分的影响 | 第24-26页 |
·PEF 对食品蛋白质组分的影响 | 第24页 |
·PEF 对食品脂质组分的影响 | 第24-25页 |
·PEF 对食品碳水化合物组分的影响 | 第25页 |
·PEF 对食品其它组分的影响 | 第25-26页 |
·直流电场技术及其在食品加工中的应用研究 | 第26-28页 |
·直流电场的原理 | 第26页 |
·直流电场技术在食品加工中的应用研究 | 第26-28页 |
·本课题的研究意义与主要研究内容 | 第28页 |
·研究意义 | 第28页 |
·研究内容 | 第28页 |
参考文献 | 第28-39页 |
第二章 脉冲电场对普通玉米淀粉理化性质影响 | 第39-66页 |
·引言 | 第39页 |
·材料和设备 | 第39-40页 |
·主要实验材料 | 第39页 |
·主要仪器和设备 | 第39-40页 |
·实验方法 | 第40-45页 |
·脉冲电场处理 | 第40-41页 |
·偏光显微镜观察 | 第41页 |
·普通玉米淀粉的颗粒形态(SEM) | 第41页 |
·普通玉米淀粉粒径的测定 | 第41-42页 |
·普通玉米淀粉的结构测定(GPC) | 第42页 |
·普通玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第42页 |
·普通玉米淀粉的短程晶体结构分析(FTIR) | 第42-43页 |
·普通玉米淀粉的热特性测定(DSC) | 第43页 |
·普通玉米淀粉的热降解性测定(TGA) | 第43页 |
·普通玉米淀粉的结构测定(NMR) | 第43-44页 |
·玉米淀粉的糊化特性测定 | 第44-45页 |
·普通玉米淀粉的膨胀与溶解性测定 | 第45页 |
·糊化以后普通玉米淀粉糊的粘弹性测定 | 第45页 |
·数据统计分析 | 第45页 |
·结果与讨论 | 第45-60页 |
·普通及偏光显微镜观察普通玉米淀粉的颗粒形态 | 第45-48页 |
·扫描电子显微镜观察普通玉米淀粉的颗粒型态(SEM) | 第48-49页 |
·普通玉米淀粉粒径的分析 | 第49-50页 |
·普通玉米淀粉的分子量分析(GPC) | 第50-51页 |
·普通玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第51-52页 |
·普通玉米淀粉的短程晶体结构分析(FTIR) | 第52-54页 |
·普通玉米淀粉的热特性分析(DSC) | 第54-56页 |
·普通玉米淀粉的热降解性分析(TGA) | 第56-57页 |
·普通玉米淀粉的结构分析(NMR) | 第57-58页 |
·普通玉米淀粉的糊化特性分析 | 第58页 |
·普通玉米淀粉的膨胀与溶解性分析 | 第58-59页 |
·糊化后普通玉米淀粉糊的粘弹性分析 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-66页 |
第三章 脉冲电场对不同链/支比玉米淀粉理化性质影响 | 第66-73页 |
·引言 | 第66页 |
·材料和设备 | 第66页 |
·主要实验材料 | 第66页 |
·主要仪器和设备 | 第66页 |
·实验方法 | 第66-67页 |
·脉冲电场处理 | 第66-67页 |
·玉米淀粉的颗粒形态(SEM) | 第67页 |
·玉米淀粉粒径的测定 | 第67页 |
·玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第67页 |
·玉米淀粉的膨胀与溶解性测定 | 第67页 |
·糊化以后玉米淀粉糊的粘弹性测定 | 第67页 |
·数据统计分析 | 第67页 |
·结果与讨论 | 第67-71页 |
·扫描电子显微镜观察玉米淀粉的颗粒形态 | 第67-68页 |
·玉米淀粉粒径的分析 | 第68页 |
·玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第68-70页 |
·玉米淀粉的膨胀与溶解性分析 | 第70页 |
·糊化后玉米淀粉糊的粘弹性分析 | 第70-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-73页 |
第四章 直流电场对普通玉米淀粉理化性质影响 | 第73-98页 |
·引言 | 第73页 |
·材料和设备 | 第73-74页 |
·主要实验材料 | 第73页 |
·主要仪器和设备 | 第73-74页 |
·实验方法 | 第74-77页 |
·直流电场处理 | 第74页 |
·直接加热处理 | 第74-75页 |
·偏光显微镜观察 | 第75页 |
·普通玉米淀粉的颗粒形态(SEM) | 第75-76页 |
·普通玉米淀粉粒径的测定 | 第76页 |
·普通玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第76页 |
·普通玉米淀粉的短程晶体结构分析(FTIR) | 第76页 |
·普通玉米淀粉的热特性测定(DSC) | 第76页 |
·普通玉米淀粉的热降解性测定(TGA) | 第76页 |
·普通玉米淀粉的结构测定(NMR) | 第76页 |
·普通玉米淀粉的糊化特性测定 | 第76页 |
·普通玉米淀粉的膨胀与溶解性测定 | 第76页 |
·糊化以后普通玉米淀粉糊的粘弹性测定 | 第76页 |
·数据统计分析 | 第76-77页 |
·结果与讨论 | 第77-93页 |
·普通及偏光显微镜观察普通玉米淀粉的颗粒形态 | 第77-79页 |
·扫描电子显微镜观察普通玉米淀粉的颗粒形态 | 第79-80页 |
·普通玉米淀粉的粒径分析 | 第80-82页 |
·普通玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第82-83页 |
·普通玉米淀粉的短程晶体结构分析(FTIR) | 第83-85页 |
·普通玉米淀粉的热特性分析(DSC) | 第85-88页 |
·普通玉米淀粉的热降解性分析(TGA) | 第88-90页 |
·普通玉米淀粉的结构分析(NMR) | 第90-91页 |
·普通玉米淀粉的糊化特性分析(微型布拉班德) | 第91-93页 |
·普通玉米淀粉的膨胀与溶解性分析 | 第93页 |
·糊化后普通玉米淀粉糊的粘弹性分析 | 第93页 |
·本章小结 | 第93-94页 |
参考文献 | 第94-98页 |
第五章 直流电场对不同链/支比玉米淀粉理化性质影响 | 第98-107页 |
·引言 | 第98页 |
·材料和设备 | 第98页 |
·主要实验材料 | 第98页 |
·主要仪器和设备 | 第98页 |
·实验方法 | 第98-99页 |
·直流电场处理 | 第98-99页 |
·玉米淀粉的颗粒形态(SEM) | 第99页 |
·玉米淀粉粒径的测定 | 第99页 |
·玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第99页 |
·玉米淀粉的膨胀与溶解性测定 | 第99页 |
·糊化以后玉米淀粉糊的粘弹性测定 | 第99页 |
·数据统计分析 | 第99页 |
·结果与讨论 | 第99-105页 |
·扫描电子显微镜观察玉米淀粉的颗粒形态 | 第99-102页 |
·玉米淀粉粒径的分析 | 第102页 |
·玉米淀粉的长程晶体结构分析(XRD) | 第102-103页 |
·玉米淀粉的膨胀与溶解性分析 | 第103-104页 |
·糊化后玉米淀粉糊的粘弹性分析 | 第104-105页 |
·本章小结 | 第105-106页 |
参考文献 | 第106-107页 |
第六章 电场处理对玉米淀粉酶解性及消化性研究 | 第107-114页 |
·引言 | 第107页 |
·材料和设备 | 第107页 |
·主要实验材料 | 第107页 |
·主要仪器和设备 | 第107页 |
·实验方法 | 第107-108页 |
·淀粉酶解性分析 | 第107-108页 |
·淀粉的体外消化性测定 | 第108页 |
·数据统计分析 | 第108页 |
·结果与讨论 | 第108-112页 |
·玉米淀粉酶解性分析 | 第108-110页 |
·玉米淀粉体外消化性分析 | 第110-112页 |
·本章小结 | 第112-113页 |
参考文献 | 第113-114页 |
第七章 玉米淀粉的电场处理过程能量分析及机理研究 | 第114-123页 |
·引言 | 第114页 |
·实验方法 | 第114-116页 |
·脉冲电场处理玉米淀粉过程能量计算 | 第114-115页 |
·直流电场处理玉米淀粉过程能量计算 | 第115页 |
·直接加热处理玉米淀粉过程能量计算 | 第115-116页 |
·结果与讨论 | 第116-121页 |
·脉冲电场处理玉米淀粉过程能量分析 | 第116-117页 |
·直流电场处理玉米淀粉过程能量分析 | 第117页 |
·直接加热处理玉米淀粉过程能量分析 | 第117页 |
·电场处理玉米淀粉过程能量对比分析 | 第117-119页 |
·电场处理玉米淀粉的作用机制初探 | 第119-121页 |
·本章小结 | 第121-122页 |
参考文献 | 第122-123页 |
第八章 结论与展望 | 第123-127页 |
·结论 | 第123-125页 |
·创新点 | 第125页 |
·展望 | 第125-127页 |
附录 | 第127-144页 |
攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第144-147页 |
致谢 | 第147-148页 |
附件 | 第148页 |