| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 课题的研究内容 | 第9页 |
| 1.3 本文的组织结构 | 第9-12页 |
| 第二章 VMM验证方法 | 第12-22页 |
| 2.1 验证技术对比分析 | 第12-14页 |
| 2.1.1 基于仿真的验证技术 | 第12-13页 |
| 2.1.2 静态技术 | 第13页 |
| 2.1.3 形式技术 | 第13页 |
| 2.1.4 物理验证与分析 | 第13-14页 |
| 2.2 System Verilog与VMM验证方法学 | 第14-22页 |
| 2.2.1 System Verilog | 第14-18页 |
| 2.2.2 VMM验证方法学 | 第18-22页 |
| 第三章 EEPROM控制器接口模块分析 | 第22-32页 |
| 3.1 EEPROM基本原理 | 第22-23页 |
| 3.2 EE_INTF模块分析 | 第23-28页 |
| 3.3 EE_INTF中寄存器与基本操作 | 第28-32页 |
| 第四章 EE_INTF模块验证平台的搭建与仿真 | 第32-46页 |
| 4.1 EE_INTF验证平台 | 第32-42页 |
| 4.2 EE_INTF仿真 | 第42-46页 |
| 第五章 EE_INTF覆盖率的仿真分析 | 第46-58页 |
| 5.1 EE_INTF仿真环境 | 第46-49页 |
| 5.2 EE_INTF模块覆盖率 | 第49-52页 |
| 5.3 EE_INTF覆盖率分析 | 第52-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 论文总结 | 第58页 |
| 6.2 研究展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-63页 |