具有高阶曲率补偿的低压开关电容式带隙基准源研究与设计
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外技术研究现状 | 第11-16页 |
1.3 论文研究内容及组织框架 | 第16-19页 |
1.4 本章小结 | 第19-20页 |
第二章 芯片方案设计 | 第20-32页 |
2.1 低压带隙基准源理论研究与方案设计 | 第20-26页 |
2.1.1 低压带隙基准源理论研究 | 第21-24页 |
2.1.2 低压带隙基准源方案设计 | 第24-26页 |
2.2 带隙基准源高阶曲率补偿理论研究与方案设计 | 第26-31页 |
2.2.1 带隙基准源高阶曲率补偿理论研究 | 第26-30页 |
2.2.2 带隙基准源高阶曲率补偿方案设计 | 第30-31页 |
2.3 本章小结 | 第31-32页 |
第三章 芯片设计与仿真 | 第32-65页 |
3.1 芯片核心电路设计与仿真 | 第32-54页 |
3.1.1 低泄漏电流MOS开关设计与仿真 | 第32-38页 |
3.1.2 开关电容式钳位电路设计与仿真 | 第38-43页 |
3.1.3 开关电容式高阶曲率补偿电路设计与仿真 | 第43-44页 |
3.1.4 开关电容式调节电路设计与仿真 | 第44-48页 |
3.1.5 开关电容式线性组合电路设计与仿真 | 第48-54页 |
3.2 开关电容控制电路设计与仿真 | 第54-60页 |
3.2.1 环形振荡器设计与仿真 | 第55-57页 |
3.2.2 电流源设计与仿真 | 第57-58页 |
3.2.3 时钟控制电路设计与仿真 | 第58-60页 |
3.3 芯片整体电路仿真 | 第60-64页 |
3.4 本章小结 | 第64-65页 |
第四章 芯片版图设计与后仿真 | 第65-72页 |
4.1 芯片版图设计 | 第65-66页 |
4.2 芯片后仿真 | 第66-71页 |
4.3 本章小结 | 第71-72页 |
总结与展望 | 第72-74页 |
工作总结 | 第72页 |
展望 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-78页 |
攻读硕士期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
附件 | 第80页 |