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功率MOSFET热特性及其长贮寿命研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第9-17页
    1.1 课题背景及意义第9-10页
    1.2 国内外长期贮存研究的现状第10-12页
    1.3 功率MOSFET热特性国内外研究现状第12-14页
    1.4 课题主要工作及意义第14页
    1.5 本章小结第14-17页
第2章 功率MOSFET参数和用于寿命预测的理论模型第17-29页
    2.1 温度对器件参数影响的理论模型及分析第17-20页
    2.2 寿命预测理论模型第20-21页
    2.3 寿命分布类型第21-23页
    2.4 支持向量机模型第23-27页
    2.5 本章小结第27-29页
第3章 功率MOSFET的热特性的研究第29-43页
    3.1 功率MOSFET参数的温度特性和零温度点第29-31页
    3.2 不同工作点结温的动态特性与热不稳定的分析第31-37页
    3.3 一种功率器件热阻的测试方法第37-41页
    3.4 本章小结第41-43页
第4章 基于海洋环境下的综合应力加速贮存寿命试验第43-61页
    4.1 综合应力试验系统的搭建第43-44页
    4.2 综合应力试验数据处理及结果分析第44-54页
    4.3 试验样品检测第54-55页
    4.4 失效机理的分析第55-59页
    4.5 本章小结第59-61页
第5章 寿命预测第61-69页
    5.1 基于支持向量机的寿命预测第61-63页
    5.2 基于综合应力试验的功率MOSFET长期贮存寿命预测第63-65页
    5.3 功率MOSFET可靠性评价第65-67页
    5.4 本章小结第67-69页
结论第69-71页
参考文献第71-75页
攻读硕士学位期间所发表的学术论文第75-77页
致谢第77页

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