| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外长期贮存研究的现状 | 第10-12页 |
| 1.3 功率MOSFET热特性国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.4 课题主要工作及意义 | 第14页 |
| 1.5 本章小结 | 第14-17页 |
| 第2章 功率MOSFET参数和用于寿命预测的理论模型 | 第17-29页 |
| 2.1 温度对器件参数影响的理论模型及分析 | 第17-20页 |
| 2.2 寿命预测理论模型 | 第20-21页 |
| 2.3 寿命分布类型 | 第21-23页 |
| 2.4 支持向量机模型 | 第23-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 功率MOSFET的热特性的研究 | 第29-43页 |
| 3.1 功率MOSFET参数的温度特性和零温度点 | 第29-31页 |
| 3.2 不同工作点结温的动态特性与热不稳定的分析 | 第31-37页 |
| 3.3 一种功率器件热阻的测试方法 | 第37-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 第4章 基于海洋环境下的综合应力加速贮存寿命试验 | 第43-61页 |
| 4.1 综合应力试验系统的搭建 | 第43-44页 |
| 4.2 综合应力试验数据处理及结果分析 | 第44-54页 |
| 4.3 试验样品检测 | 第54-55页 |
| 4.4 失效机理的分析 | 第55-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 第5章 寿命预测 | 第61-69页 |
| 5.1 基于支持向量机的寿命预测 | 第61-63页 |
| 5.2 基于综合应力试验的功率MOSFET长期贮存寿命预测 | 第63-65页 |
| 5.3 功率MOSFET可靠性评价 | 第65-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-69页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第75-77页 |
| 致谢 | 第77页 |