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QFN封装电磁屏蔽用化学镀Cu的研究

第一章 绪论第9-18页
    1.1 电磁干扰及其危害第9-10页
    1.2 电磁干扰的防治第10-16页
    1.3 研究目标和内容第16-18页
第二章 化学镀概述第18-36页
    2.1 化学镀概述第18-20页
    2.2 化学镀前处理工艺进展第20-28页
        2.2.1 粗化工艺的进展第21-22页
        2.2.2 活化工艺进展第22-28页
    2.3 化学镀铜的研究进展第28-31页
        2.3.1 络合剂的研究第28页
        2.3.2 还原剂的研究第28-29页
        2.3.3 添加剂的研究第29-31页
    2.4 化学镀铜的机理第31-34页
        2.4.1 化学镀铜的机理第31-33页
        2.4.2 甲醛还原铜的反应机理第33-34页
    2.5 化学镀铜发展趋势第34-36页
第三章 化学镀前处理工艺的研究第36-53页
    3.1 引言第36页
    3.2 化学镀层与非金属基底间的结合力第36-39页
    3.3 实验方法第39-42页
    3.4 除油工艺的研究第42-44页
    3.5 粗化工艺的研究第44-52页
        3.5.1 粗化工艺对结合力的影响第44-46页
        3.5.2 粗化工艺对表面形貌的影响第46-48页
        3.5.3 粗化工艺对表面粗糙度的影响第48-49页
        3.5.4 粗化工艺对表面润湿性的影响第49-52页
    3.6 本章小结第52-53页
第四章 高稳定性化学镀铜溶液的研究第53-72页
    4.1 引言第53页
    4.2 实验方法第53-55页
    4.3 化学镀铜溶液组分的优化第55-61页
        4.3.1 正交试验研究第55-57页
        4.3.2 各因素对沉积速率和稳定性的影响第57-61页
    4.4 添加剂对镀液稳定性的研究第61-67页
        4.4.1 无水乙醇对镀液性能的影响第62-64页
        4.4.2 α-αˊ联吡啶对镀液性能的影响第64-65页
        4.4.3 亚铁氰化钾对镀液性能的影响第65页
        4.4.4 混合添加剂对镀液性能的影响第65-67页
    4.5 镀液寿命的研究第67-70页
        4.5.1 实验分析方法第67-69页
        4.5.2 铜盐、甲醛消耗量与时间的关系第69页
        4.5.3 施镀试验第69-70页
    4.6 本章小结第70-72页
第五章 化学镀铜溶液中添加剂的电化学研究第72-88页
    5.1 引言第72页
    5.2 线性扫描伏安法第72-73页
    5.3 实验方法第73-75页
    5.4 化学镀铜反应混合电位的研究第75-79页
        5.4.1 引言第75-76页
        5.4.2 添加剂及其浓度对混合电位-时间曲线的影响第76-77页
        5.4.3 基体活化工艺对混合电位-时间曲线的影响第77-79页
    5.5 添加剂对化学镀 Cu 溶液阴阳极反应影响的电化学研究第79-86页
        5.5.1 引言第79-80页
        5.5.2 添加剂对 HCHO 阳极极化曲线的影响第80-83页
        5.5.3 添加剂对Cu~(2+)阴极还原极化曲线的影响第83-86页
    5.6 本章小结第86-88页
第六章 化学镀 Cu 层性能研究第88-98页
    6.1 引言第88页
    6.2 实验方法第88页
    6.3 化学镀Cu 层性能研究第88-91页
        6.3.1 化学镀Cu 层导电性能的研究第89-90页
        6.3.2 化学镀Cu 层结合力测试第90-91页
    6.4 化学镀 Cu 层的电磁屏蔽性能研究第91-97页
        6.4.1 电磁屏蔽测试原理第91-92页
        6.4.2 平板型电磁屏蔽材料测试方法第92-95页
        6.4.3 化学镀 Cu 镀层电磁屏蔽性能研究第95-97页
    6.5 本章小结第97-98页
第七章 全文总结第98-101页
    7.1 全文结论第98-99页
    7.2 本文创新点第99页
    7.3 以后工作展望第99-101页
说明第101-102页
参考文献第102-109页
发表论文和参加科研情况说明第109-111页
致谢第111页

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