首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--材料论文--一般性问题论文

硅衬底上GaN外延层和AlGaN/GaN异质结的MOCVD生长研究

摘要第1-6页
Abstract第6-10页
1 绪论第10-23页
   ·氮化镓基材料特性简介第10-16页
   ·研究背景及意义第16-21页
   ·本文内容简述第21-23页
2 外延生长设备和材料表征仪器的介绍第23-46页
   ·外延生长技术简介第23-29页
   ·实验中使用的MOCVD系统第29-39页
   ·材料表征设备第39-46页
3 氮化镓基材料的MOCVD生长基础第46-57页
   ·MOCVD生长的基本理论描述第46-51页
   ·氮化镓基材料的MOCVD生长特性第51-56页
   ·本章小结第56-57页
4 硅衬底上生长氮化镓的前期工作第57-69页
   ·硅衬底表面的处理第57-59页
   ·氮化铝缓冲层的设计和优化第59-68页
   ·本章小结第68-69页
5 硅衬底上高质量氮化镓的生长第69-98页
   ·低温氮化铝插入层的设计第69-81页
   ·组分连续渐变插入层的设计第81-93页
   ·超晶格等复合应变缓冲层的设计第93-97页
   ·本章小结第97-98页
6 硅衬底上AlGaN/GaN异质结的生长与表征第98-106页
   ·硅衬底上AlGaN/GaN异质结的生长第98-100页
   ·表征与分析第100-105页
   ·本章小结第105-106页
7 总结与展望第106-108页
致谢第108-109页
参考文献第109-121页
博士学位期间发表的论文第121页

论文共121页,点击 下载论文
上一篇:电控液晶多谱成像关键技术研究
下一篇:用于固态照明的非极性a面GaN薄膜的MOCVD生长及表征