摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
1 绪论 | 第12-29页 |
·引言 | 第12-15页 |
·国内外液晶技术和液晶器件发展现状 | 第15-26页 |
·本论文的主要研究工作 | 第26-27页 |
·本论文的课题来源及研究内容安排 | 第27-29页 |
2 电控单圆孔电极单元液晶透镜 | 第29-47页 |
·引言 | 第29-30页 |
·电控单圆孔电极单元液晶透镜的结构及制作工艺流程 | 第30-32页 |
·基于几何光学和液晶弹性连续体理论的模型 | 第32-38页 |
·器件光电特性、光学成像能力的测试与分析 | 第38-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
3 电控太赫兹液晶透镜 | 第47-62页 |
·引言 | 第47-49页 |
·THz液晶透镜的结构及制作工艺流程 | 第49-50页 |
·THz液晶透镜时域特性 | 第50-51页 |
·液晶材料的折射率梯度分布模型 | 第51-53页 |
·器件在THz透过、聚集及成像特性的测试与分析 | 第53-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
4 电控128×128元液晶微透镜阵列 | 第62-77页 |
·引言 | 第62页 |
·电控128×128元液晶微透镜阵列的结构及制作工艺流程 | 第62-64页 |
·液晶材料的折射率梯度分布模型 | 第64-68页 |
·器件光电、多重像特性的测试与分析 | 第68-75页 |
·本章小结 | 第75-77页 |
5 电控128×128元液晶柱微透镜阵列 | 第77-94页 |
·引言 | 第77页 |
·电控128×128元液晶柱微透镜阵列的结构及制作工艺流程 | 第77-78页 |
·二维液晶材料的折射率梯度分布模型 | 第78-84页 |
·器件白光聚集、远场白光干涉及谱激光干涉特性的测试与分析 | 第84-93页 |
·本章小结 | 第93-94页 |
6 液晶器件的频率调节技术 | 第94-113页 |
·引言 | 第94-95页 |
·液晶器件的结构 | 第95-96页 |
·基于液晶介电响应行为的液晶器件等效电路模型 | 第96-106页 |
·器件频率驱控特性的测试与分析 | 第106-111页 |
·本章小结 | 第111-113页 |
7 基于液晶微透镜阵列的Shack-Hartmann波前探测 | 第113-126页 |
·引言 | 第113-114页 |
·Shack-Hartmann模型 | 第114-116页 |
·器件波前、强度图像特性的测试与分析 | 第116-124页 |
·本章小结 | 第124-126页 |
8 全文总结与展望 | 第126-128页 |
·总结 | 第126-127页 |
·展望 | 第127-128页 |
致谢 | 第128-129页 |
参考文献 | 第129-144页 |
附录1 攻读博士学位期间发表论文情况 | 第144-146页 |
附录2 攻读博士学位期间所从事的科研课题 | 第146-147页 |
附录3 公开发表的学术论文与博士学位论文的关系 | 第147-148页 |
附录4 英文缩写对照表 | 第148-149页 |