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基于互补阻性开关的逻辑器件设计方法研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第13-18页
    1.1 研究背景及意义第13-14页
    1.2 国内外研究现状第14-16页
    1.3 主要研究内容及结构安排第16-18页
第2章 忆阻器理论第18-33页
    2.1 忆阻器概念第18页
    2.2 Crossbar阵列第18-20页
        2.2.1 Crossbar结构第18-19页
        2.2.2 3D CMOS忆阻器混合结构第19-20页
    2.3 BRS模型及仿真第20-23页
        2.3.1 BRS模型第20-21页
        2.3.2 SPICE仿真实现第21-23页
    2.4 漏电流问题第23-26页
        2.4.1 漏电流产生第23-24页
        2.4.2 解决方案第24-26页
    2.5 CRS基本原理第26-28页
    2.6 忆阻器逻辑设计第28-32页
        2.6.1 IMP逻辑第29-31页
        2.6.2 MRL逻辑第31-32页
        2.6.3 其它逻辑应用第32页
    2.7 小结第32-33页
第3章 一位比较器设计第33-41页
    3.1 CRS的FSM第33-34页
    3.2 一位比较器设计第34-39页
        3.2.1 一位比较器基本逻辑第34页
        3.2.2 一位比较器设计第34-36页
        3.2.3 实验仿真第36-39页
    3.3 性能分析第39页
    3.4 小结第39-41页
第4章 一位半加器设计第41-47页
    4.1 双层CRS的FSM第41-42页
    4.2 一位半加器设计第42-44页
        4.2.1 一位半加器基本逻辑第42页
        4.2.2 一位半加器设计第42-44页
        4.2.3 实验仿真第44页
    4.3 性能分析第44-46页
    4.4 小结第46-47页
结论第47-49页
参考文献第49-54页
附录A 攻读学位期间发表的学术论文第54-55页
致谢第55页

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