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超薄芯片双转塔高效转移工艺的机理建模及参数优化

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
1 绪论第9-23页
    1.1 课题来源第9-12页
    1.2 相关文献综述第12-19页
    1.3 本文主要工作第19-23页
2 超薄芯片双转塔转移工艺提出及参数优化第23-38页
    2.1 引言第23-24页
    2.2 超薄芯片双转塔转移工艺的提出第24-26页
    2.3 超薄芯片双转塔贴装系统效率建模与计算第26-32页
    2.4 超薄芯片双转塔贴装系统工艺参数分析与优化第32-37页
    2.5 本章小结第37-38页
3 超薄芯片倒置剥离机理建模及工艺窗口优化第38-56页
    3.1 引言第38页
    3.2 超薄芯片倒置剥离技术的提出第38-40页
    3.3 超薄芯片倒置剥离理论建模与求解第40-46页
    3.4 超薄芯片倒置剥离机理及影响因素分析第46-51页
    3.5 超薄芯片可靠剥离工艺窗口优化设计第51-55页
    3.6 本章小结第55-56页
4 超薄芯片同步转移机理建模及可靠性分析第56-72页
    4.1 引言第56-57页
    4.2 超薄芯片同步转移技术的提出第57-59页
    4.3 超薄芯片同步转移效率建模与计算第59-64页
    4.4 超薄芯片同步转移力学建模及可靠性分析第64-71页
    4.5 本章小结第71-72页
5 超薄芯片运动贴装机理建模及参数优化第72-86页
    5.1 引言第72-73页
    5.2 超薄芯片运动贴装效率建模与分析第73-76页
    5.3 超薄芯片运动贴装的动力学建模与计算第76-82页
    5.4 超薄芯片运动贴装参数分析与优化第82-85页
    5.5 本章小结第85-86页
6 超薄芯片倒置剥离与运动贴装实验验证第86-100页
    6.1 引言第86-87页
    6.2 胶层剥离能量释放率测试实验验证第87-91页
    6.3 超薄芯片倒置剥离测试实验验证第91-94页
    6.4 超薄芯片运动贴装测试实验验证第94-97页
    6.5 工艺过程能力分析第97-99页
    6.6 本章小结第99-100页
7 总结与展望第100-102页
    7.1 全文总结第100页
    7.2 工作展望第100-102页
致谢第102-104页
附录 I 公式推导第104-107页
附录 II 博士期间研究成果第107-108页
参考文献第108-118页

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