| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第10-11页 |
| ·CMOS 像感器研究进展及空间应用状况 | 第11-14页 |
| ·CMOS 像感器研究进展状况 | 第11-13页 |
| ·CMOS 像感器空间应用状况 | 第13-14页 |
| ·CMOS 像感器的空间辐射效应研究进展 | 第14-18页 |
| ·国外研究状况 | 第14-17页 |
| ·国内研究状况 | 第17-18页 |
| ·研究状况及存在的问题 | 第18-19页 |
| ·本课题研究状况 | 第18页 |
| ·需完善的研究工作 | 第18-19页 |
| ·本文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 第2章 空间辐射环境及其效应研究 | 第20-35页 |
| ·空间辐射环境分析 | 第20-23页 |
| ·银河宇宙射线 | 第20页 |
| ·地磁捕获辐射带 | 第20-22页 |
| ·太阳宇宙射线 | 第22页 |
| ·空间核爆辐射环境 | 第22-23页 |
| ·卫星轨道系统及辐射空间分布 | 第23-30页 |
| ·卫星轨道 | 第23-24页 |
| ·辐射环境中高能射线及粒子空间分布 | 第24-29页 |
| ·空间辐射实验剂量值设定 | 第29-30页 |
| ·辐射对器件的损伤与机理 | 第30-34页 |
| ·总剂量效应 | 第30-33页 |
| ·瞬态电离效应 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 空间辐射对 CMOS 像感器光电特性影响研究 | 第35-51页 |
| ·CMOS 像感器工作原理及特征参数分析 | 第35-37页 |
| ·CMOS 像感器工作原理 | 第35-36页 |
| ·CMOS 像感器基本参数分析 | 第36-37页 |
| ·光电二极管及 MOSFET 工作原理 | 第37-38页 |
| ·光电二极管工作原理 | 第37页 |
| ·MOSFET 工作原理 | 第37-38页 |
| ·辐射环境对 CMOS 像感器损伤机理分析 | 第38-50页 |
| ·辐射环境对光电二极管的影响分析 | 第39-43页 |
| ·辐射环境对 MOSFET 的影响分析 | 第43-47页 |
| ·辐射环境对 CMOS 像感器影响分析 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 辐射对 CMOS 像感器性能影响的实验研究 | 第51-75页 |
| ·实验方案 | 第51-55页 |
| ·实验条件及实验布局 | 第51-53页 |
| ·辐射实验前参数测量 | 第53-55页 |
| ·电子辐射实验结果及机理分析 | 第55-70页 |
| ·辐射前本底测试 | 第55-58页 |
| ·辐射对 CMOS 像感器暗输出的影响 | 第58-63页 |
| ·辐射对 CMOS 像感器输出不均匀性影响 | 第63-64页 |
| ·辐射对 CMOS 像感器光强响应影响 | 第64-70页 |
| ·CMOS 像感器退火效应实验与分析 | 第70-73页 |
| ·实验结果 | 第70-73页 |
| ·实验机理分析 | 第73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 第5章 空间用 CMOS 像感器辐射防护研究 | 第75-82页 |
| ·CMOS 像感器器件级抗辐射防护研究 | 第75-79页 |
| ·空间辐射环境分析 | 第75-76页 |
| ·CMOS 像感器抗辐射加固 | 第76-77页 |
| ·CMOS 像感器电路抗辐射设计 | 第77-79页 |
| ·CMOS 像感器系统级抗辐射屏蔽及规避 | 第79-80页 |
| ·软件防护及地面消除处理 | 第80页 |
| ·本章小结 | 第80-82页 |
| 结论 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91页 |