| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第15-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 论文内容和组织架构 | 第18-19页 |
| 第二章 基于InP HBT集成电路互连线延迟分析 | 第19-29页 |
| 2.1 基于InP HBT集成电路互连线延迟问题的分析方法 | 第19-21页 |
| 2.2 基于InP HBT集成电路互连线寄生参数提取 | 第21-24页 |
| 2.2.1 fastcap对互连线寄生电容的提取 | 第21-23页 |
| 2.2.2 fasthenry对互连线寄生电阻和寄生电感的提取 | 第23-24页 |
| 2.3 互连线寄生参数对延迟的影响 | 第24-28页 |
| 2.3.1 RLC与RC互连线模型分析延迟准确性比较 | 第25-26页 |
| 2.3.2 互连线宽度对互连线延迟的影响 | 第26-27页 |
| 2.3.3 互连线长度对互连线延迟的影响 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 基于InP HBT集成电路互连线串扰分析 | 第29-53页 |
| 3.1 串扰机理和分析方法 | 第29-30页 |
| 3.2 单端互连线之间的串扰 | 第30-37页 |
| 3.2.1 耦合线长对串扰的影响 | 第30-33页 |
| 3.2.2 线间距对串扰的影响 | 第33-35页 |
| 3.2.3 动态线线宽对串扰的影响 | 第35-37页 |
| 3.3 差分互连线的串扰 | 第37-50页 |
| 3.3.1 单端线与差分对耦合线长对串扰的影响 | 第37-39页 |
| 3.3.2 单端线与差分对间距对串扰的影响 | 第39-40页 |
| 3.3.3 差分线的耦合强度对串扰的影响 | 第40-42页 |
| 3.3.4 差分线对差分线串扰 | 第42-50页 |
| 3.4 降低串扰的常用方法 | 第50-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 互连不连续性对信号完整性的影响 | 第53-61页 |
| 4.1 互连线宽度变化对信号完整性的影响 | 第53-55页 |
| 4.2 互连线拐弯对信号完整性的影响 | 第55-57页 |
| 4.3 互连线过孔对信号完整性的影响 | 第57-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 5.1 论文总结 | 第61-62页 |
| 5.2 研究展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 作者简介 | 第69-70页 |
