芯片粘接工序质量评价模型的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
·SPC 技术 | 第9-10页 |
·SPC 在微电子领域中的应用 | 第10-12页 |
·国内外发展状况 | 第11-12页 |
·建立SPC 的重要性 | 第12页 |
·本论文的研究意义及主要内容 | 第12-15页 |
第二章 SPC 的基本理论 | 第15-27页 |
·SPC 技术概述 | 第15-16页 |
·产品质量的统计性 | 第15页 |
·质量因素的分类 | 第15-16页 |
·控制图理论 | 第16-20页 |
·控制图基本理论 | 第16-18页 |
·控制图的绘制 | 第18-19页 |
·控制图的判断 | 第19-20页 |
·常规控制图 | 第20-27页 |
·计量值控制图 | 第20-23页 |
·计数值控制图 | 第23-27页 |
第三章 芯片粘接工序中剪切力的分布规律 | 第27-45页 |
·芯片粘接工序中剪切力规范值的特点 | 第27-28页 |
·剪切力分布规律的分析 | 第28-36页 |
·同一芯片面积下的剪切力数据分布规律 | 第28-35页 |
·不同残留面积比对应的剪切力数据分布规律的分析 | 第35-36页 |
·拟合结果分析 | 第36-40页 |
·小结 | 第40-45页 |
第四章 SPC 模型中非正态数据的转换 | 第45-57页 |
·Box-Cox 幂转换模型 | 第45-51页 |
·Box-Cox 转换原理 | 第45-48页 |
·Box-Cox 幂转换模型的适用性讨论 | 第48-49页 |
·Box-Cox 转换与正态和对数正态的关系 | 第49-51页 |
·Johnson 转换模型 | 第51-55页 |
·约翰逊分布体系 | 第51页 |
·约翰逊分布体系的选择 | 第51-53页 |
·参数估计 | 第53-55页 |
·三种转换模型的转换结果对比 | 第55-57页 |
第五章 剪切力的SPC 数学模型 | 第57-65页 |
·基本建模思想 | 第57-58页 |
·SPC 数学模型 | 第58-61页 |
·应用实例 | 第61-65页 |
结论 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
攻读硕士期间的科研成果 | 第71-73页 |
附录 确定最佳拟合的z 值的程序代码 | 第73-79页 |