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15KV ESD的RS485收发器芯片的设计与实现

摘要第5-7页
abstract第7-8页
第一章 绪论第11-16页
    1.1 课题背景第11页
    1.2 国内外研究现状第11-15页
        1.2.1 国内主要技术途径第13-15页
    1.3 课题的主要工作第15页
    1.4 论文结构第15-16页
第二章 ESD原理及ESD器件第16-48页
    2.1 静电的产生和危害第16-22页
        2.1.1 静电的产生第16-20页
        2.1.2 静电的危害第20-22页
    2.2 静电失效模式第22-24页
    2.3 静电放电模型第24-35页
        2.3.1 HBM模型第26-29页
        2.3.2 MM模型第29-31页
        2.3.3 CDM模型第31-35页
    2.4 ESD测试第35-41页
        2.4.1 HBM和MM的测试第35-41页
        2.4.2 CDM的测试第41页
    2.5 ESD器件第41-47页
        2.5.1 电阻器件第41-42页
        2.5.2 电容器件第42-43页
        2.5.3 二极管器件第43页
        2.5.4 MOSFET器件第43-45页
        2.5.5 BJT器件第45-46页
        2.5.6 可控硅器件第46-47页
    2.6 本章小结第47-48页
第三章 15KV ESD收发芯片方案第48-57页
    3.1 RS485接收器结构设计第50-52页
    3.2 RS485发送器结构设计第52-54页
    3.3 15KV ESD保护电路第54-56页
    3.4 本章总结第56-57页
第四章 15KV ESD收发器芯片设计第57-83页
    4.1 制造工艺对ESD的影响第57-58页
    4.2 15KV ESD保护电路及版图设计措施第58-66页
        4.2.1 RS485输入输出ESD设计第58-61页
        4.2.2 RO输出端ESD设计第61-63页
        4.2.3 DI输入端ESD设计第63-64页
        4.2.4 电源端口ESD设计第64-66页
    4.3 全芯片 15KV ESD设计第66-67页
    4.4 15KV ESD收发器芯片的仿真验证第67-80页
        4.4.1 带隙电流第68-71页
        4.4.2 接收器第71-75页
        4.4.3 发送器第75-80页
    4.5 芯片封装第80-82页
    4.6 本章总结第82-83页
第五章 15KV ESD RS485收发器测试第83-94页
    5.1 RS485收发器的常规电性测试第83-84页
    5.2 15KV ESD测试第84-89页
    5.3 测试结果分析第89-93页
    5.4 本章总结第93-94页
第六章 总结与展望第94-95页
    6.1 工作总结第94页
    6.2 未来展望第94-95页
致谢第95-96页
参考文献第96-98页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第98-99页

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