基于反熔丝的假劣集成芯片检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 本课题的研究背景及研究意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 检测方案的核心 | 第12-13页 |
| 1.4 论文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第二章 反熔丝OTP存储器 | 第15-28页 |
| 2.1 反熔丝器件概述 | 第15-17页 |
| 2.1.1 反熔丝器件的特性 | 第15-16页 |
| 2.1.2 反熔丝存储单元 | 第16-17页 |
| 2.2 存储器总体结构 | 第17-26页 |
| 2.2.1 存储器系统结构 | 第18-19页 |
| 2.2.2 读出模块 | 第19-23页 |
| 2.2.3 编程模块 | 第23-26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-28页 |
| 第三章 DES加密电路设计 | 第28-48页 |
| 3.1 加密算法的概念 | 第28-30页 |
| 3.1.1 典型算法的简介 | 第28-30页 |
| 3.2 DES加密算法工作原理 | 第30-39页 |
| 3.2.1 子密钥生成模块 | 第31-33页 |
| 3.2.2 主运算工作模块 | 第33-39页 |
| 3.3 加密电路设计的介绍 | 第39-46页 |
| 3.3.1 开发环境与语言 | 第39-41页 |
| 3.3.2 数字电路设计思想 | 第41-42页 |
| 3.3.3 DES电路设计与仿真 | 第42-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 寿命传感器 | 第48-55页 |
| 4.1 电路老化的概念 | 第48-51页 |
| 4.1.1 器件效应 | 第48-51页 |
| 4.1.2 电路老化 | 第51页 |
| 4.2 环形振荡器电路设计 | 第51-54页 |
| 4.2.1 环形振荡器的工作原理 | 第52-53页 |
| 4.2.2 环形振荡器电路 | 第53-54页 |
| 4.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 检测方案的系统设计 | 第55-61页 |
| 5.1 系统工作流程 | 第55-56页 |
| 5.2 硬件测试 | 第56-60页 |
| 5.2.1 硬件测试环境 | 第56-57页 |
| 5.2.2 串口辅助模块 | 第57页 |
| 5.2.3 硬件测试 | 第57-60页 |
| 5.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第65-66页 |
